| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-34页 |
| ·课题背景 | 第14-16页 |
| ·系统级芯片的设计方法学 | 第16-18页 |
| ·可测试性设计技术 | 第18-21页 |
| ·故障模型 | 第18-19页 |
| ·测试矢量生成 | 第19-20页 |
| ·可测试性设计 | 第20-21页 |
| ·系统级芯片的可测试性设计技术 | 第21-31页 |
| ·SoC测试结构的研究 | 第21-25页 |
| ·内核测试标准IEEE P1500 | 第25-27页 |
| ·混合信号SoC测试结构的研究 | 第27-29页 |
| ·SoC测试优化的研究 | 第29-31页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第31-32页 |
| ·论文结构 | 第32-34页 |
| 第2章 基于TAM-Bus总线的SoC测试体系结构 | 第34-62页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·IEEE P1500 内核测试壳（Wrapper）设计 | 第34-43页 |
| ·IEEE P1500 内核测试壳结构 | 第34-37页 |
| ·测试壳指令集 | 第37-38页 |
| ·测试壳的加装 | 第38-43页 |
| ·SoC测试体系结构 | 第43-51页 |
| ·测试存取机制（TAM）结构 | 第43-45页 |
| ·SoC测试控制机制 | 第45-49页 |
| ·基于TAM-Bus总线的SoC测试结构的特点 | 第49-51页 |
| ·测试图形（Test Pattern）翻译 | 第51-56页 |
| ·测试图形（Test Pattern） | 第51-53页 |
| ·测试图形翻译描述 | 第53-55页 |
| ·测试图形翻译的验证 | 第55-56页 |
| ·实例应用分析 | 第56-61页 |
| ·SoC芯片LILAC简介 | 第57页 |
| ·SoC测试策略 | 第57-58页 |
| ·LILAC结果分析 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第3章 基于遗传算法的内核测试壳及测试存取机制的协同优化 | 第62-92页 |
| ·引言 | 第62-65页 |
| ·TAM宽度约束下的测试壳优化 | 第65-77页 |
| ·测试壳扫描链 | 第65-66页 |
| ·测试壳扫描链划分问题 | 第66-68页 |
| ·基于混合遗传算法的测试壳优化 | 第68-75页 |
| ·测试壳优化结果 | 第75-77页 |
| ·测试壳与TAM协同优化 | 第77-91页 |
| ·IP核分配TAM协同优化 | 第77-79页 |
| ·TAM测试总线划分协同优化 | 第79-86页 |
| ·TAM测试总线细分协同优化 | 第86-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 第4章 混合信号的SoC测试体系结构 | 第92-112页 |
| ·引言 | 第92页 |
| ·混合信号测试存取结构 | 第92-104页 |
| ·混合信号测试存取机制（MTAM） | 第92-93页 |
| ·混合信号测试壳 | 第93-101页 |
| ·混合信号TAM-Bus接口（MTBI） | 第101-102页 |
| ·混合信号SoC测试控制机制 | 第102-104页 |
| ·实例研究 | 第104-111页 |
| ·被测电路模块 | 第105-106页 |
| ·混合信号测试壳和MTBI中的开关电路 | 第106-108页 |
| ·结果分析 | 第108-111页 |
| ·本章小结 | 第111-112页 |
| 第5章 基于直方图法的ADC内建自测试 | 第112-141页 |
| ·ADC特性简介 | 第112-115页 |
| ·传统的基于直方图法的ADC测试 | 第115-118页 |
| ·线性信号的ADC直方图分析法 | 第116页 |
| ·正弦波信号的ADC直方图分析法 | 第116-118页 |
| ·基于线性直方图法的ADC BIST方案 | 第118-128页 |
| ·时间分解方案 | 第118-120页 |
| ·并行时间分解方案 | 第120-123页 |
| ·折叠线性直方图BIST方案 | 第123-126页 |
| ·结果及评估 | 第126-128页 |
| ·基于ΔΣ调制的片上模拟线性信号发生器 | 第128-140页 |
| ·整体结构 | 第128-129页 |
| ·数字Δ∑调制器 | 第129-133页 |
| ·数字斜坡信号发生器及控制模块 | 第133-134页 |
| ·一位DAC | 第134页 |
| ·低通滤波器 | 第134页 |
| ·校准电路模块 | 第134-137页 |
| ·结果及分析 | 第137-140页 |
| ·本章小结 | 第140-141页 |
| 结论 | 第141-143页 |
| 参考文献 | 第143-155页 |
| 附录A s344 翻译前后的测试图形文件 | 第155-161页 |
| 附录B 遗传算法及其数学基础 | 第161-169页 |
| 攻读博士学位期间所发表的论文 | 第169-171页 |
| 致谢 | 第171页 |
