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倒装焊及相关问题的研究

中文摘要第1-4页
ABSTRCT第4-10页
第一章 微电子芯片封装综述第10-31页
 第一节 微电子封装系统的芯片封装第10-16页
  1. 集成电路发展与封装第10-11页
  2. 芯片封装与芯片级互连第11-12页
  3. 基本的芯片级互连技术第12-15页
  4. 芯片封装的发展趋势第15-16页
 第二节 倒装焊技术极其发展第16-25页
  1. 倒装焊技术的起源第16-18页
  2. 倒装焊技术的特点第18-20页
  3. 倒装焊技术的发展第20-25页
 第三节 倒装焊可靠性研究第25-30页
  1. 倒装焊可靠性问题的提出第25-26页
  2. 焊点的可靠性第26-28页
  3. 底充胶材料、工艺与可靠性第28-29页
  4. 倒装焊的有限元模拟第29-30页
 第四节 本论文的主要研究内容第30-31页
第二章 检测技术在倒装焊可靠性研究中的应用第31-45页
 第一节 综述第31-32页
 第二节 SAM声学检测技术简介第32-35页
 第三节 C-SAM技术在倒装焊可靠性研究中的应用第35-45页
  1. 底充胶分层检测第35-37页
  2. 焊点裂纹检测第37-42页
  3. 其它缺陷检测第42-45页
第三章 实验样品制备与可靠性实验第45-55页
 第一节 材料选择第45-48页
  1. 芯片与基板第45-47页
  2. 助焊剂材料第47-48页
  3. 底充胶材料第48页
 第二节 工艺参数优化第48-52页
  1. 助焊剂涂敷第48-50页
  2. 实验样品制备第50-52页
 第三节 可靠性实验第52-55页
  1. 温度循环实验第52-53页
  2. 高温高湿实验第53-55页
第四章 底充胶与SnPb焊点可靠性研究第55-71页
 第一节 不同参数底充胶试样温度循环实验结果第56-60页
  1. 本章研究过程的样品和可靠性实验有关信息第56页
  2. 焊点温度循环寿命第56-57页
  3. 底充胶分层萌生与传播第57-59页
  4. 底充胶分层与焊点裂纹萌生第59-60页
 第二节 二维有限元模拟第60-65页
  1. 二维有限元网格第60-61页
  2. 焊料60Sn40Pb和底充胶材料模型第61-64页
  3. 结果分析第64-65页
 第三节 底充胶分层与焊点可靠性第65-70页
 第四节 结论第70-71页
第五章 倒装焊SnPb焊点热疲劳失效第71-85页
 第一节 不同尺寸焊点温度循环试验结果第72-78页
  1. 本章研究过程的样品和可靠性实验有关信息第72页
  2. 焊点温度循环寿命第72-73页
  3. 焊点热疲劳裂纹萌生位置与扩展第73-75页
  4. 焊点热疲劳裂纹与底充胶分层第75-76页
  5. 焊点微结构粗化第76-78页
 第二节 三维有限元模拟第78-82页
  1. Coffin-Manson方程第78页
  2. 三维有限元网格第78-79页
  3. 结果分析第79-82页
 第三节 焊点热疲劳可靠性第82-84页
 第四节 结论第84-85页
第六章 倒装焊温度湿度实验研究第85-95页
 第一节 实验结果第86-90页
  1. 本章研究过程的样品和可靠性实验有关信息第86页
  2. 底充胶分层与运动复合现象第86-88页
  3. 底充胶分层与焊点失效第88页
  4. 回流实验第88-90页
 第二节 湿度与倒装焊封装可靠性第90-94页
 第三节 结论第94-95页
第七章 论文总结第95-97页
文献索引第97-105页
附录1 三种底充胶材料参数第105-106页
附录2 温度循环标准第106页
附录3 试样温度循环实验过程室温电阻第106-108页
附录4 试样温度循环实验过程底充胶分层百分率第108-109页
文章发表目录第109-110页
致谢第110-111页
个人简历第111页

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