工业CT高精度图像测量算法研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题研究的背景 | 第10-13页 |
| ·图像测量简介 | 第10-11页 |
| ·工业CT技术 | 第11-13页 |
| ·课题研究的现状 | 第13-15页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第15-16页 |
| ·研究内容与章节安排 | 第16-18页 |
| 2 亚像素边缘检测 | 第18-38页 |
| ·亚像素边缘检测概述 | 第18-19页 |
| ·常用的亚像素边缘检测方法 | 第19-27页 |
| ·利用一阶微分期望值的亚像素边缘检测 | 第19-20页 |
| ·基于小波变换的亚像素边缘检测 | 第20-22页 |
| ·基于矩的亚像素边缘检测 | 第22-24页 |
| ·基于插值的亚像素边缘检测 | 第24-25页 |
| ·基于拟合的亚像素边缘检测 | 第25-27页 |
| ·基于Facet模型的亚像素边缘检测 | 第27-34页 |
| ·Facet模型 | 第27-29页 |
| ·三维空间上的方向导数 | 第29-30页 |
| ·基于2D Facet模型的亚像素边缘检测算法 | 第30-31页 |
| ·改进算法 | 第31-34页 |
| ·实验结果 | 第34-37页 |
| ·基于2D Facet模型的算法 | 第34-35页 |
| ·改进算法 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 3 亚像素二维测量 | 第38-47页 |
| ·常用的二维测量方法 | 第38-39页 |
| ·面积的测量 | 第38页 |
| ·周长的测量 | 第38-39页 |
| ·基于改进算法的亚像素二维测量方法 | 第39-40页 |
| ·改进算法亚像素边缘检测 | 第39页 |
| ·最小距离搜索 | 第39-40页 |
| ·二维参数的计算 | 第40页 |
| ·实验结果 | 第40-46页 |
| ·仿真圆的测量 | 第40-42页 |
| ·实际圆孔的测量 | 第42-43页 |
| ·任意形状区域的测量 | 第43-45页 |
| ·其它参数的测量 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 4 亚体素三维测量 | 第47-62页 |
| ·常用的三维测量方法 | 第47-48页 |
| ·体素累加法 | 第47页 |
| ·柱体公式法 | 第47-48页 |
| ·台体公式法 | 第48页 |
| ·基于3D Facet模型的亚体素三维测量方法 | 第48-54页 |
| ·基于3D Facet模型的亚体素边缘检测 | 第48-51页 |
| ·边缘的降维处理和跟踪 | 第51页 |
| ·表面的三角面片重构 | 第51-52页 |
| ·三维参数的计算 | 第52-53页 |
| ·亚体素测量方法的处理步骤 | 第53-54页 |
| ·实验结果 | 第54-61页 |
| ·亚体素边缘检测 | 第54-55页 |
| ·亚体素三维测量 | 第55-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 5 结论与展望 | 第62-64页 |
| ·论文工作总结 | 第62页 |
| ·存在的问题和后续工作展望 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录 | 第69-70页 |
