一维脉冲电流注入技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-10页 |
| 第一章 绪言 | 第10-20页 |
| ·研究背景 | 第10-13页 |
| ·强电磁脉冲环境与电子系统的电磁敏感性 | 第10-11页 |
| ·电磁脉冲敏感性测试方式 | 第11-12页 |
| ·电流注入测试方式 | 第12-13页 |
| ·电流注入的国内外研究动态 | 第13-18页 |
| ·国外研究动态 | 第13-17页 |
| ·国内研究动态 | 第17-18页 |
| ·本文的研究内容 | 第18-19页 |
| ·研究内容 | 第18页 |
| ·研究方案与技术途径 | 第18-19页 |
| ·本文的内容安排 | 第19-20页 |
| 第二章 核电磁脉冲环境响应理论分析 | 第20-30页 |
| ·高空核爆炸电磁脉冲环境(HEMP) | 第20-22页 |
| ·导线的电磁脉冲感应电流传输线理论模型 | 第22-25页 |
| ·taylor 理论模型 | 第22-23页 |
| ·Agrawal 理论模型 | 第23-24页 |
| ·入射波参数模型 | 第24-25页 |
| ·导线感应电流的传输线模型计算结果 | 第25-26页 |
| ·导线感应电流随导线长度的变化规律 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 脉冲电流注入装置与注入波形 | 第30-40页 |
| ·脉冲电流注入装置总体 | 第30-32页 |
| ·注入装置整体结构 | 第30页 |
| ·注入装置工作过程 | 第30-31页 |
| ·注入装置电路图模拟 | 第31-32页 |
| ·注入装置部件 | 第32-37页 |
| ·储能电容器 | 第32-33页 |
| ·火花开关 | 第33-34页 |
| ·负载水电阻 | 第34-35页 |
| ·耦合部件与磁芯 | 第35-37页 |
| ·其它 | 第37页 |
| ·电流注入装置输出波形 | 第37-39页 |
| ·本章总结 | 第39-40页 |
| 第四章 脉冲电流注入敏感性测试方法 | 第40-48页 |
| ·脉冲电流测试方案 | 第40-41页 |
| ·脉冲电流注入测试平台 | 第41-43页 |
| ·电磁敏感性测试干扰与损伤阈值定义 | 第43-45页 |
| ·电磁脉冲敏感性等级划分 | 第43-45页 |
| ·接口电路敏感性测试干扰阈值和损伤阈值定义 | 第45页 |
| ·注入测试参数测量技术 | 第45-47页 |
| ·本章总结 | 第47-48页 |
| 第五章 通信接口电路电磁敏感性PCI 测试 | 第48-66页 |
| ·RS-232 电磁敏感性(EMS)测试 | 第48-58页 |
| ·RS-232 接口电路 | 第48-49页 |
| ·第一组试验结果 | 第49-51页 |
| ·第二组试验结果 | 第51页 |
| ·第三组试验结果 | 第51-53页 |
| ·第四组试验结果 | 第53-54页 |
| ·RS-232 测试结果总结 | 第54-58页 |
| ·RS-422 电磁敏感性(EMS)测试 | 第58-64页 |
| ·RS-422 接口电路 | 第58-59页 |
| ·第一组试验结果 | 第59-61页 |
| ·第二组试验结果 | 第61页 |
| ·RS-422 测试结果总结 | 第61-64页 |
| ·本章总结 | 第64-66页 |
| 第六章 导线的脉冲电流注入规律研究 | 第66-78页 |
| ·导线一端接地、一端接负载 | 第66-68页 |
| ·导线两端接不同电阻 | 第68-72页 |
| ·不同连接状态导线响应的理论研究 | 第72-76页 |
| ·导线一端接地、一端接负载 | 第72-73页 |
| ·导线两端接不同电阻 | 第73-76页 |
| ·规律总结 | 第76-78页 |
| 第七章 结论 | 第78-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第84页 |
