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二维光子晶体的带隙结构和缺陷态研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-7页
目录第7-9页
第一章 绪论第9-21页
   ·引言第9页
   ·光子晶体的概念以及性质第9-11页
   ·光子晶体的研究历史和现状第11-20页
     ·光子晶体的理论研究方法第11-13页
     ·光子晶体的制作方法第13-16页
     ·光子晶体的应用第16-19页
     ·光子晶体的研究历史与现状第19-20页
   ·本研究课题的来源和主要研究内容第20-21页
第二章 光子晶体带隙计算的理论方法第21-34页
   ·引言第21页
   ·二维标准平面波展开方法第21-25页
   ·时域有限差分方法(FDTD)第25-32页
     ·时域有限差分方法第25-27页
     ·麦克斯韦方程在直角坐标系中的FDTD离散形式第27-32页
   ·本章小结第32-34页
第三章 二维光子晶体的带隙计算第34-45页
   ·引言第34页
   ·分析二维二组元光子晶体带隙的影响因素第34-38页
     ·介电常数对带隙的影响第35-36页
     ·填充率对带隙的影响第36-37页
     ·晶体结构对带隙的影响第37-38页
   ·二维二组元三角晶格光子晶体绝对带隙计算第38-40页
   ·二维三组元正方晶格包层光子晶体带隙计算第40-43页
     ·GaAs以圆柱插入玻璃圆柱时体系的带隙结构第41-42页
     ·GaAs以方柱插入玻璃圆柱时体系的带隙结构第42-43页
   ·结论第43-45页
第四章 二维二组元光子晶体缺陷态的模拟分析第45-56页
   ·引言第45-46页
   ·二维二组元光子晶体的缺陷结构第46-52页
     ·玻璃/空气的空腔缺陷结构第46-47页
     ·GaAs/空气的空腔缺陷结构第47-49页
     ·缺陷柱填充率对二组元光子晶体缺陷态的影响第49-52页
       ·玻璃/空气体系中实缺陷柱填充率对线缺陷态的影响第50-51页
       ·GaAs/空气体系中实缺陷柱填充率对线缺陷态的影响第51-52页
   ·其它几种缺陷结构的研究第52-55页
   ·结论第55-56页
第五章 二维三组元光子晶体的缺陷态研究第56-65页
   ·引言第56页
   ·三组元异质缺陷柱体系的缺陷态研究第56-60页
     ·GaAs-玻璃/空气体系中的线缺陷第57-58页
     ·玻璃-GaAs/空气体系中的线缺陷第58-60页
   ·三组元包层体系的缺陷态研究第60-63页
   ·结论第63-65页
第六章 结论与展望第65-67页
   ·结论第65-66页
   ·展望第66-67页
参考文献第67-73页
致谢第73-74页
攻读学位期间主要的研究成果第74页

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