摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·研究背景 | 第9-11页 |
·电能质量问题的普遍性 | 第9页 |
·电能质量问题呈现出的两个新特点 | 第9-10页 |
·电能质量问题造成的危害 | 第10-11页 |
·无功补偿的重要性及意义 | 第11页 |
·国内外无功补偿装置的发展历程、现状及趋势 | 第11-15页 |
·无功补偿装置的发展的几个阶段 | 第11-12页 |
·静止无功发生装置 SVG 和静止无功补偿器 SVC 的异同 | 第12页 |
·国内外 SVG 的的研究应用现状 | 第12-14页 |
·国内情况 | 第13-14页 |
·国外情况 | 第14页 |
·发展趋势 | 第14-15页 |
·本文研究内容 | 第15-16页 |
·研究三相四线制无功发生装置的重要意义 | 第15页 |
·本文所做的具体工作 | 第15-16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第二章 三相四线制静止无功发生装置的整体结构及理论基础 | 第17-34页 |
·装置整体结构框图 | 第17-18页 |
·瞬时无功功率理论分析 | 第18-22页 |
·三相电路瞬时无功功率理论的实质 | 第18-19页 |
·谐波和无功电流的实时检测 | 第19-20页 |
·三相电路谐波和无功电流实时检测 | 第20页 |
·三相四线制系统中i_p、i_q 检测法的实现 | 第20-22页 |
·空间矢量法产生触发脉冲 | 第22-29页 |
·脉冲发生方法概述 | 第22页 |
·α β γ坐标下的主电路模型 | 第22-24页 |
·三相四桥臂逆变器的空间电压矢量 | 第24-26页 |
·三相四桥臂逆变器开关表的制作 | 第26-29页 |
·三相四线制静止无功发生装置直流侧电压控制 | 第29-33页 |
·直流侧电压控制的必要性 | 第29-30页 |
·直流侧电压控制的基本原理 | 第30页 |
·模糊 PI 控制 | 第30-33页 |
·模糊理论和模糊控制 | 第30-31页 |
·模糊 PI 控制原理 | 第31-32页 |
·模糊输入量和输出量的确定 | 第32页 |
·模糊控制规则的确定 | 第32-33页 |
·模糊推理和去模糊化方法的确定 | 第33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
第三章 三相四线制静止无功发生装置参数设计 | 第34-40页 |
·直流侧电容参数设计 | 第34-36页 |
·电容值上限设计 | 第34-35页 |
·电容值下限设计 | 第35-36页 |
·输出滤波器设计 | 第36-39页 |
·按照跟随要求设计滤波器 | 第37-38页 |
·按照截止频率校验滤波器 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第四章 三相四线制静止无功发生装置仿真研究 | 第40-61页 |
·电源理想对称 | 第41-45页 |
·阻感性对称负载 | 第41-42页 |
·阻感性不对称负载 | 第42-43页 |
·阻容性对称负载 | 第43-44页 |
·阻容性不对称负载 | 第44-45页 |
·电源理想不对称 | 第45-49页 |
·阻感性对称负载 | 第45-46页 |
·阻感性不对称负载 | 第46-47页 |
·阻容性对称负载 | 第47-48页 |
·阻容性不对称负载 | 第48-49页 |
·电源有内阻对称 | 第49-53页 |
·阻感性对称负载 | 第49-50页 |
·阻感性不对称负载 | 第50-51页 |
·阻容性对称负载 | 第51-52页 |
·阻容性不对称负载 | 第52-53页 |
·电源有内阻不对称 | 第53-59页 |
·阻感性对称负载 | 第53-54页 |
·阻感性不对称负载 | 第54-55页 |
·阻容性对称负载 | 第55-56页 |
·阻容性不对称负载 | 第56-57页 |
·三相负荷随机变动 | 第57-58页 |
·整流桥负载 | 第58-59页 |
·装置在配网中应用效果仿真分析 | 第59-60页 |
·补偿感性负载产生的无功 | 第59页 |
·补偿容性负载产生的无功 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第五章 基于 DSP 加 ARM 三相四线制静止无功发生装置的控制器设计 | 第61-75页 |
·硬件需求 | 第61-70页 |
·硬件原理图 | 第61-67页 |
·TMS320LF2407 DSP 芯片的特点 | 第67-68页 |
·TMS320LF2407 的模数转换模块 ADS 的特点 | 第68页 |
·LPC2104 ARM 芯片的特点 | 第68-70页 |
·软件设计 | 第70-74页 |
·软件流程图 | 第70页 |
·μC/OS-Ⅱ操作系统简介 | 第70-71页 |
·LPC2104 的调试环境ADS 和 TMS320LF2407 的调试环境CC 简介 | 第71-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
第六章 结论及下一步工作 | 第75-76页 |
·结论 | 第75页 |
·下一步工作 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-78页 |
作者在攻读学位期间公开发表的论文及取得的成果 | 第78-79页 |
致谢 | 第79页 |