| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-11页 |
| 1．1 论文的选题背景及选题意义 | 第8页 |
| 1．2 智能仪器和自动测试系统 | 第8-9页 |
| 1．3 用PC机控制自动测试系统 | 第9-10页 |
| 1．4 课题来源及研究内容 | 第10-11页 |
| 第2章 GPIB系统综述 | 第11-25页 |
| 2．1 GPIB总线介绍 | 第11-19页 |
| 2．1．1 简介 | 第11页 |
| 2．1．2 GPIB系统 | 第11-13页 |
| 2．1．3 IEEE-488总线 | 第13-14页 |
| 2．1．4 总线命令 | 第14-16页 |
| 2．1．5 命令编码 | 第16-17页 |
| 2．1．6 命令序列 | 第17-19页 |
| 2．2 MODEL 8116简介及其编程 | 第19-20页 |
| 2．2．1 MODEL 8116A简介 | 第19页 |
| 2．2．2 MODEL 8116A在IEEE-488的通用操作 | 第19页 |
| 2．2．3 MODEL 8116A地址设定 | 第19页 |
| 2．2．4 模式和参数设置 | 第19-20页 |
| 2．3 TDS1012 数字存储示波器简介 | 第20-24页 |
| 2．3．1 简介 | 第20-21页 |
| 2．3．2 TDS1012示波器的地址设定 | 第21页 |
| 2．3．3 针对TDS1012示波器的GPIB命令 | 第21-22页 |
| 2．3．4 与本系统有关的命令 | 第22-24页 |
| 2．4 小结 | 第24-25页 |
| 第3章 USB总线及协议 | 第25-34页 |
| 3．1 USB总线简介 | 第25-26页 |
| 3．1．1 USB总线概念及特点 | 第25页 |
| 3．1．2 USB总线协议 | 第25-26页 |
| 3．1．3 USB控制模块的划分 | 第26页 |
| 3．2 USB1．1协议 | 第26-29页 |
| 3．2．1 USB系统的构成 | 第27-28页 |
| 3．2．2 USB设备的枚举过程 | 第28-29页 |
| 3．3 PDIUSBD12 简介及编程 | 第29-33页 |
| 3．3．1 PDIUSBD12简介 | 第29-30页 |
| 3．3．2 PDIUSBD12固件的结构 | 第30-31页 |
| 3．3．3 PDIUSBD12各端点使用说明 | 第31-32页 |
| 3．3．4 D12固件程序说明 | 第32-33页 |
| 3．4 小结 | 第33-34页 |
| 第4章 自动测试系统的硬件组成 | 第34-42页 |
| 4．1 概述 | 第34页 |
| 4．2 单片机与GPIB总线连接硬件原理 | 第34-38页 |
| 4．2．1 数据总线 | 第35页 |
| 4．2．2 地址总线 | 第35-36页 |
| 4．2．3 控制总线 | 第36-37页 |
| 4．2．4 传送字节的软件实现 | 第37-38页 |
| 4．3 单片机与D12连接原理 | 第38-40页 |
| 4．3．1 数据总线 | 第39页 |
| 4．3．2 地址总线 | 第39页 |
| 4．3．3 控制总线 | 第39-40页 |
| 4．4 单片机与数据存储器芯片6264的连接原理 | 第40-41页 |
| 4．5 小结 | 第41-42页 |
| 第5章 用自动测试系统测试RFID天线的品质因数 | 第42-57页 |
| 5．1 天线谐振理论及测量品质因数的方法 | 第42-44页 |
| 5．1．1 线圈天线的谐振理论 | 第42-43页 |
| 5．1．2 线圈天线的品质因数Q与它的电阻的关系 | 第43-44页 |
| 5．1．3 线圈天线品质因数的测量方法 | 第44页 |
| 5．2 测量系统的硬件组成及原理 | 第44-46页 |
| 5．3 测量系统的软件流程 | 第46-47页 |
| 5．4 上位机程序框架及软件流程 | 第47-51页 |
| 5．4．1 VB使用的API函数说明 | 第47-48页 |
| 5．4．2 上位机程序界面 | 第48-49页 |
| 5．4．3 上位机程序流程图 | 第49-51页 |
| 5．5 下位机程序框架及流程图 | 第51-52页 |
| 5．6 系统测量结果 | 第52-56页 |
| 5．7 小结 | 第56-57页 |
| 第6章 结束语 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 附录．攻读学位期间发表(已投)的论文 | 第61页 |