低噪声低杂散微波捷变频率源研究
| 第一章 频率合成技术概述 | 第1-11页 |
| 第二章 DDS技术基本理论 | 第11-22页 |
| ·DDS技术基本原理 | 第11-12页 |
| ·DDS的结构 | 第12-14页 |
| ·相位累加器 | 第12-13页 |
| ·正弦查询表ROM | 第13页 |
| ·数模转换器DAC | 第13-14页 |
| ·DDS输出频谱分析 | 第14-22页 |
| ·理想DDS输出谱分析 | 第14-15页 |
| ·DDS的杂散及相位噪声分析 | 第15-22页 |
| 第三章 锁相环(PLL)的基本原理 | 第22-33页 |
| ·锁相环路的组成及工作原理 | 第22-26页 |
| ·鉴相器 | 第22-24页 |
| ·压控振荡器 | 第24页 |
| ·环路滤波器 | 第24-26页 |
| ·锁相环工作过程和定性分析 | 第26-33页 |
| ·锁定状态 | 第26-27页 |
| ·跟踪过程 | 第27页 |
| ·失锁状态 | 第27页 |
| ·环路的线形化相位模型 | 第27-28页 |
| ·传递函数 | 第28页 |
| ·PLL的噪声性能 | 第28-30页 |
| ·PLL的跟踪捕获性能 | 第30-32页 |
| ·环路的稳定性 | 第32-33页 |
| 第四章 DDS-PLL频率源的研制 | 第33-57页 |
| ·方案的选择和论证 | 第34-37页 |
| ·方案的选择 | 第34-36页 |
| ·功能实现的可行性分析 | 第36页 |
| ·指标实现的可行性分析 | 第36-37页 |
| ·关键器件选择 | 第37-41页 |
| ·DDS芯片AD9852 | 第37-39页 |
| ·鉴相器ADF4113 | 第39-40页 |
| ·压控振荡器ROS-1200W | 第40页 |
| ·单片机PIC16F877A | 第40页 |
| ·存储器AT28C16 | 第40-41页 |
| ·电路设计和参数选择 | 第41-49页 |
| ·DDS设计 | 第41-42页 |
| ·滤波器设计 | 第42-43页 |
| ·锁相环电路设计 | 第43-47页 |
| ·单片机设计 | 第47-49页 |
| ·系统调试 | 第49-51页 |
| ·单片机电路的调试 | 第49-50页 |
| ·DDS部分的调试 | 第50页 |
| ·锁相环的调试 | 第50-51页 |
| ·系统测试和结果分析 | 第51-57页 |
| ·测试系统 | 第51-52页 |
| ·测试结果 | 第52-55页 |
| ·结果分析 | 第55-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 附录一 | 第61-62页 |
| 附录二 | 第62-67页 |
