| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 前言 | 第10-23页 |
| ·中子散射谱仪模拟研究的发展和应用 | 第10-12页 |
| ·蒙特卡罗方法的基本思想及在中子散射谱仪模拟中的应用技巧 | 第12-16页 |
| ·中子散射谱仪模拟软件MCSTAS和VITESS | 第16-18页 |
| ·本论文的工作背景和内容 | 第18-19页 |
| 参考文献 | 第19-23页 |
| 2 CARR堆冷中子导管的模拟和优化研究 | 第23-47页 |
| ·引言 | 第23-24页 |
| ·中子导管原理和设计原则 | 第24-28页 |
| ·CARR堆冷中子导管的优化设计 | 第28-37页 |
| ·CNG1的主要性能分析 | 第37-41页 |
| ·CNG2的主要性能分析 | 第41-45页 |
| ·小结 | 第45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 3 CARR堆冷中子导管对冷源尺寸的要求 | 第47-60页 |
| ·引言 | 第47-49页 |
| ·堆内导管的全反射临界角与冷源尺寸 | 第49-51页 |
| ·导管系统输出中子强度与冷源尺寸 | 第51-58页 |
| ·小结 | 第58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 4 中子应力衍射谱仪的模拟和优化研究 | 第60-91页 |
| ·引言 | 第60-62页 |
| ·中子衍射法应力测量技术和CARR堆中子应力衍射仪设计 | 第62-65页 |
| ·单色器尺寸和位置 | 第65-69页 |
| ·Ge垂直聚焦单色器的模拟 | 第69-74页 |
| ·样品处中子注量率 | 第74-76页 |
| ·第二准直器 | 第76-78页 |
| ·样品前限束狭缝的位置和尺寸 | 第78-82页 |
| ·α-Fe多晶样品的中子衍射模拟 | 第82-84页 |
| ·谱仪的分辨率 | 第84-87页 |
| ·小结 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 5 CARR堆高分辨中子粉末衍射谱仪的模拟和优化设计 | 第91-111页 |
| ·引言 | 第91页 |
| ·中子粉末衍射仪的工作原理 | 第91-93页 |
| ·CARR堆旁HRPD谱仪总体结构和物理参数 | 第93-94页 |
| ·聚焦单色器的模拟 | 第94-98页 |
| ·第一准直器高度和宽度的选取 | 第98-99页 |
| ·第二准直器宽度和高度的选取 | 第99页 |
| ·HRPD谱仪的主要性能分析 | 第99-108页 |
| ·优化后的方案与原方案的比较 | 第108-110页 |
| ·小结 | 第110页 |
| 参考文献 | 第110-111页 |
| 6 总结 | 第111-115页 |
| 博士期间发表论文目录 | 第115-117页 |
| 致谢 | 第117页 |
