扫描隧道显微镜性能优化及实用化研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| §1．1 扫描隧道显微镜（STM）的发展和现状 | 第8-13页 |
| §1．1．1 STM的发展历史 | 第8-9页 |
| §1．1．2 STM的现状 | 第9-11页 |
| §1．1．3 STM的优点和局限性 | 第11-13页 |
| §1．2 在STM基础上发展起来的扫描探针显微镜 | 第13-16页 |
| §1．3 本文的研究内容 | 第16-19页 |
| 第二章 扫描隧道显微镜的原理与系统 | 第19-36页 |
| §2．1 隧道效应理论 | 第19-29页 |
| §2．1．1 隧道效应 | 第19-22页 |
| §2．1．2 金属—绝缘层—金属结模型 | 第22-25页 |
| §2．1．3 针尖—样品表面互相作用模型 | 第25-29页 |
| §2．2 扫描隧道显微镜成像工作原理 | 第29-31页 |
| §2．2．1 STM的原理 | 第29-30页 |
| §2．2．2 STM的成像方式 | 第30-31页 |
| §2．3 扫描隧道显微镜系统 | 第31-36页 |
| 第三章 扫描隧道显微镜的研制 | 第36-66页 |
| §3．1 STM探头设计 | 第36-48页 |
| §3．1．1 STM针尖及其制备 | 第38-41页 |
| §3．1．2 xyz扫描控制器 | 第41-44页 |
| §3．1．3 粗调与微调进给机构 | 第44-45页 |
| §3．1．4 CCD显微监测系统 | 第45-46页 |
| §3．1．5 振动隔绝与电学屏蔽 | 第46-48页 |
| §3．2 扫描与反馈控制电路系统 | 第48-57页 |
| §3．2．1 前置放大电路 | 第50-52页 |
| §3．2．2 PID反馈控制电路 | 第52-54页 |
| §3．2．3 扫描控制电路 | 第54页 |
| §3．2．4 高压放大电路 | 第54-57页 |
| §3．3 计算机软、硬件系统 | 第57-66页 |
| §3．3．1 扫描控制与图像采集 | 第57-62页 |
| §3．3．2 图像处理与显示 | 第62-63页 |
| §3．3．3 软件控制界面 | 第63-66页 |
| 第四章 系统调试及性能测试 | 第66-80页 |
| §4．1 扫描探头连接及调试 | 第66-70页 |
| §4．1．1 CCD显微监测系统测试 | 第67-68页 |
| §4．1．2 探头屏蔽效果测试 | 第68-70页 |
| §4．2 A/D、D/A卡测试 | 第70-72页 |
| §4．3 扫描控制电路调试 | 第72-79页 |
| §4．3．1 前置放大模块调试 | 第72-73页 |
| §4．3．2 反馈控制模块调试 | 第73-78页 |
| §4．3．3 高压放大模块调试 | 第78-79页 |
| §4．4 系统联合调试 | 第79-80页 |
| 第五章 扫描隧道显微镜的应用 | 第80-90页 |
| §5．1 石墨表面原子图像及其处理 | 第80-84页 |
| §5．1．1 石墨表面的原子图像 | 第80-82页 |
| §5．1．2 图像处理 | 第82-84页 |
| §5．2 石墨的纳米结构图像 | 第84-86页 |
| §5．3 其他部分样品的STM图像 | 第86-89页 |
| §5．3．1 金表面的STM图像 | 第86-87页 |
| §5．3．2 金镏醇的STM图像 | 第87-88页 |
| §5．3．3 WS_2纳米管的STM图像 | 第88-89页 |
| §5．4 STM系统综合性能 | 第89-90页 |
| 第六章 总结与展望 | 第90-92页 |
| §6．1 总结 | 第90-91页 |
| §6．2 有待解决的问题 | 第91-92页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
