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基于光谱干涉理论的光学介质特性测量技术研究

中文摘要第1-5页
英文摘要第5-6页
第一章 绪论第6-12页
 §1.1 论文的研究背景第6-10页
 §1.2 本论文的主要研究内容第10-11页
 参考文献第11-12页
第二章 基本原理第12-26页
 §2.1 各向异性介质厚度测量的基本原理第12-15页
 §2.2 各向同性介质厚度及其光学参数测量的基本原理第15-22页
 §2.3 介质的色散第22-23页
 小结第23-24页
 参考文献第24-26页
第三章 光学各性异性与各向同性介质测量的优化理论研究第26-48页
 §3.1 优化理论第26-34页
 §3.2 模拟结果及分析第34-46页
 小结第46页
 参考文献第46-48页
第四章 实验结果及其分析第48-64页
 §4.1 光谱测量的实验装置第48-54页
 §4.2 软件系统的实现第54-59页
 §4.3 光学各性异性介质厚度测量的实验结果及分析第59-62页
 小结第62-63页
 参考文献第63-64页
第五章 结论与展望第64-66页
致谢第66-67页

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