| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·研究背景 | 第11-13页 |
| ·单粒子效应 | 第11页 |
| ·容错技术 | 第11-12页 |
| ·故障注入技术 | 第12-13页 |
| ·本文主要工作 | 第13-14页 |
| ·论文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 故障注入技术综述 | 第16-26页 |
| ·故障注入原理 | 第16-18页 |
| ·故障及故障类型 | 第16-17页 |
| ·故障注入原理 | 第17-18页 |
| ·故障注入方法 | 第18-22页 |
| ·基于模拟的故障注入方法 | 第18-19页 |
| ·基于物理的故障注入方法 | 第19-22页 |
| ·故障注入技术的应用 | 第22-23页 |
| ·覆盖率估计 | 第22页 |
| ·获得延迟时间 | 第22-23页 |
| ·生成故障字典 | 第23页 |
| ·软件测试 | 第23页 |
| ·国内外研究现状及发展方向 | 第23-26页 |
| ·国内外故障注入技术研究现状 | 第23-24页 |
| ·故障注入技术研究的发展方向 | 第24-26页 |
| 第三章 单粒子故障在程序中的传播 | 第26-46页 |
| ·单粒子故障对硬件系统的影响 | 第26-28页 |
| ·单粒子故障对微处理器的影响 | 第26-27页 |
| ·单粒子故障对内存的影响 | 第27-28页 |
| ·故障产生模型 | 第28-29页 |
| ·故障传播模型 | 第29-40页 |
| ·基本定义 | 第29-30页 |
| ·指令的故障传播分析 | 第30-32页 |
| ·基本块内的故障传播分析 | 第32-37页 |
| ·执行路径内的故障传播分析 | 第37-38页 |
| ·程序内的故障传播分析 | 第38-40页 |
| ·程序风险路径和关键数据的选取 | 第40-45页 |
| ·风险路径的选取 | 第40-43页 |
| ·关键数据的选取 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 单粒子故障模型的研究 | 第46-60页 |
| ·单粒子故障模式 | 第46-47页 |
| ·基于等价类划分的故障序列设计 | 第47-50页 |
| ·单粒子故障发生的特点 | 第48页 |
| ·故障序列设计 | 第48-50页 |
| ·故障等价类划分规则 | 第50-54页 |
| ·指令存储区故障等价类划分规则 | 第50-51页 |
| ·数据存储区故障等价类划分规则 | 第51-53页 |
| ·寄存器故障等价类划分规则 | 第53-54页 |
| ·故障序列的生成方法 | 第54-59页 |
| ·基于故障等价类划分的故障序列生成方法 | 第54-56页 |
| ·基于等价类划分故障序列生成方法的覆盖率估计 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 基于SIMPLESCALAR 的实验验证 | 第60-73页 |
| ·故障传播规律分析 | 第60-62页 |
| ·选择程序的风险路径 | 第60-61页 |
| ·选择关键数据 | 第61-62页 |
| ·生成故障序列 | 第62-67页 |
| ·生成指令存储区故障序列 | 第62-63页 |
| ·生成数据存储区故障序列 | 第63-65页 |
| ·生成程序计数器的故障序列 | 第65-66页 |
| ·生成故障序列 | 第66-67页 |
| ·基于SIMPLESCALAR 的故障注入器SimFi | 第67-69页 |
| ·SimpleScalar 模拟器简介 | 第67页 |
| ·故障注入器Sim Fi 的实现 | 第67-69页 |
| ·实验步骤及结果分析 | 第69-71页 |
| ·实验步骤 | 第69-70页 |
| ·实验结果分析 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 第六章 结束语 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第80-81页 |
| 附录一 示例路径的故障流图 | 第81-82页 |
| 附录二 冒泡排序算法的汇编源程序 | 第82-84页 |