VLSI热载流子退化的嵌入式测试技术研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-9页
第一章 绪论	第9-13页
·相关背景及选题依据	第9-10页
·国内外状况	第10-11页
·主要工作	第11页
·章节安排	第11-13页
第二章 热载流子效应及其可靠性设计方法	第13-23页
·集成电路中的可靠性问题	第13-14页
·MOSFET热载流子概述	第14-18页
·热载流子效应	第15-17页
·器件退化	第17-18页
·MOS器件工艺可靠性技术	第18-22页
·器件结构设计	第19-21页
·工艺设计方法	第21-22页
·小结	第22-23页
第三章 CMOS抗热载流子电路设计技术研究	第23-35页
·CMOS抗热载流子电路设计原理	第23-24页
·CMOS抗热载流子电路设计的模拟验证	第24-33页
·小结	第33-35页
第四章 MOS热载流子退化嵌入式测试技术研究	第35-53页
·嵌入式测试技术研究	第35-41页
·热载流子退化的嵌入式测试策略	第35-40页
·嵌入式预测电路原理	第40-41页
·预测单元电路设计	第41-49页
·预测电路版图设计	第49-52页
·小结	第52-53页
第五章 结束语	第53-55页
致谢	第55-57页
参考文献	第57-61页
攻读硕士学位期间的研究成果	第61-62页