基于S3C44B0的高压开关测试系统设计与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第7页 |
| ·高压开关概述 | 第7-8页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·本文主要工作 | 第9-11页 |
| 第二章 高压开关测试系统设计分析及相关技术 | 第11-15页 |
| ·高压开关需要测量的参数介绍 | 第11-12页 |
| ·参数的测量方法和原理 | 第12-14页 |
| ·分、合闸时间及其他时间相关参数 | 第12页 |
| ·行程 | 第12-13页 |
| ·电流 | 第13-14页 |
| ·分、合速度 | 第14页 |
| ·系统的功能要求 | 第14-15页 |
| 第三章 系统硬件的设计 | 第15-31页 |
| ·系统的硬件总体构架设计 | 第15-18页 |
| ·该系统硬件设计接口要求如下 | 第15页 |
| ·嵌入式微处理器的选择 | 第15-18页 |
| ·系统各个模块电路设计 | 第18-27页 |
| ·存储模块的电路设计 | 第18-20页 |
| ·USB接口模块的设计 | 第20-22页 |
| ·液晶模块的硬件设计 | 第22-23页 |
| ·信号采样模块电路设计 | 第23-27页 |
| ·系统的PCB实现 | 第27-30页 |
| ·系统PCB整体设计 | 第28页 |
| ·高速ARM系统的电磁干扰分析与设计 | 第28-29页 |
| ·模数混合模块PCB的分析与设计 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 高压开关测试系统的软件设计 | 第31-49页 |
| ·硬件设备的驱动程序设计 | 第31-36页 |
| ·A/D转换的驱动程序设计 | 第31-32页 |
| ·USB固件程序 | 第32-34页 |
| ·液晶的驱动设计 | 第34-36页 |
| ·嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ的移植 | 第36-41页 |
| ·移植μC/OS-Ⅱ的条件 | 第37-38页 |
| ·μC/OS-Ⅱ的移植 | 第38-41页 |
| ·图形系统μC/GUI的移植 | 第41-42页 |
| ·μC/GUI原理分析 | 第41-42页 |
| ·系统应用程序的设计 | 第42-48页 |
| ·启动程序的设计 | 第42-43页 |
| ·多任务程序设计 | 第43-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 软件系统的测试 | 第49-51页 |
| 第六章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55页 |
