脉冲激光沉积法制备硫系玻璃薄膜的结构与光学性质研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·硫系玻璃概述 | 第10-15页 |
| ·硫系玻璃 | 第10-13页 |
| ·硫系玻璃的应用 | 第13-15页 |
| ·硫系玻璃薄膜的研究进展 | 第15-17页 |
| ·选题目的和意义 | 第17-18页 |
| ·本论文的主要研究思路与内容 | 第18-19页 |
| 第2章 硫系玻璃薄膜的制备工艺与测试方法 | 第19-32页 |
| ·玻璃薄膜制备工艺概述 | 第19-21页 |
| ·PLD的原理和工艺过程 | 第21-30页 |
| ·PLD原理 | 第21-23页 |
| ·靶材的制备 | 第23-26页 |
| ·薄膜的制备 | 第26-30页 |
| ·测试方法 | 第30-32页 |
| ·XRD测试 | 第30页 |
| ·薄膜的组分测试 | 第30-31页 |
| ·薄膜的表面形貌测试 | 第31页 |
| ·薄膜的透射谱和吸收谱测试 | 第31页 |
| ·Raman光谱测试 | 第31页 |
| ·薄膜厚度测试 | 第31-32页 |
| 第3章 Ge-S基玻璃薄膜的结构与光学性质 | 第32-59页 |
| ·前言 | 第32-34页 |
| ·组分与结构分析 | 第34-42页 |
| ·XRD测试分析 | 第34-35页 |
| ·EDS测试分析 | 第35-37页 |
| ·Raman测试分析 | 第37-40页 |
| ·表面形貌测试分析 | 第40-42页 |
| ·光学性质 | 第42-57页 |
| ·光学透射谱与吸收谱 | 第42-48页 |
| ·折射率变化 | 第48-53页 |
| ·薄膜厚度 | 第53页 |
| ·光学带隙 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第4章 Ge-Se基玻璃薄膜的结构与光学性质 | 第59-83页 |
| ·前言 | 第59-60页 |
| ·Ge-Se玻璃薄膜的组分与结构 | 第60-65页 |
| ·XRD测试分析 | 第60-61页 |
| ·组分测试 | 第61-62页 |
| ·表面和断面的显微形貌 | 第62-63页 |
| ·Raman光谱分析 | 第63-65页 |
| ·Ge-Se玻璃薄膜的光学性质 | 第65-72页 |
| ·光学透射谱和吸收谱 | 第65-68页 |
| ·光学带隙 | 第68-70页 |
| ·折射率变化 | 第70-72页 |
| ·Ge-Ga-Se-KBr玻璃薄膜的结构 | 第72-76页 |
| ·XRD测试和XRF测试 | 第72-73页 |
| ·AFM测试 | 第73-75页 |
| ·Raman光谱 | 第75-76页 |
| ·Ge-Ga-Se-KBr玻璃薄膜的光学性质 | 第76-81页 |
| ·光学透射谱与吸收谱 | 第76-79页 |
| ·光学带隙 | 第79-80页 |
| ·薄膜厚度 | 第80-81页 |
| ·折射率变化 | 第81页 |
| ·本章小结 | 第81-83页 |
| 第5章 硫系玻璃薄膜的光致效应 | 第83-94页 |
| ·前言 | 第83-85页 |
| ·光致效应的测试 | 第85-90页 |
| ·实验装置 | 第85-86页 |
| ·光学透过率变化 | 第86-89页 |
| ·光致体积变化 | 第89-90页 |
| ·光致各向异性 | 第90页 |
| ·光致效应的机理分析 | 第90-93页 |
| ·光致暗化效应 | 第90-91页 |
| ·光致体积膨胀 | 第91-92页 |
| ·光致各向异性 | 第92-93页 |
| ·本章小结 | 第93-94页 |
| 第6章 硫系玻璃薄膜的二阶非线性光学性质研究 | 第94-107页 |
| ·前言 | 第94-96页 |
| ·二阶非线性极化实验与测试 | 第96-101页 |
| ·极化实验 | 第96-97页 |
| ·Maker条纹的测试 | 第97-101页 |
| ·二阶非线性系数计算 | 第101-104页 |
| ·极化的机理分析 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-107页 |
| 第7章 全文总结与展望 | 第107-109页 |
| ·全文总结 | 第107-108页 |
| ·研究展望 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-126页 |
| 攻读博士学位期间已发表论文目录 | 第126-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
