| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 硅橡胶复合绝缘子 | 第12-15页 |
| 1.2.1 复合绝缘子构成 | 第12页 |
| 1.2.2 复合绝缘子配方体系 | 第12-14页 |
| 1.2.3 HTV硫化 | 第14-15页 |
| 1.3 HTV在绝缘子的运行过程中的老化 | 第15-17页 |
| 1.3.1 硅橡胶绝缘子老化过程外观特征 | 第15页 |
| 1.3.2 硅橡胶绝缘子老化因素 | 第15-17页 |
| 1.4 硅橡胶复合绝缘子的老化检测手段 | 第17-20页 |
| 1.4.1 硅橡胶宏观性能检测方法 | 第17-19页 |
| 1.4.2 硅橡胶微观结构检测方法 | 第19-20页 |
| 1.5 硅橡胶复合绝缘子老化研究现状 | 第20-21页 |
| 1.6 本文研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 显微红外技术测量硅橡胶绝缘子伞裙老化深度方法探究 | 第23-41页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 显微红外测试原理 | 第23-24页 |
| 2.3 实验样品的取样及切片处理 | 第24页 |
| 2.4 显微红外测试仪器参数 | 第24-26页 |
| 2.5 显微红外测试老化深度测试因素探究 | 第26-28页 |
| 2.5.1 测试峰位的选择 | 第26-27页 |
| 2.5.2 峰面积计算 | 第27-28页 |
| 2.6 显微红外测量硅橡胶老化深度的实验方法 | 第28-35页 |
| 2.6.1 线扫描测试方法 | 第28-33页 |
| 2.6.2 面扫描测试方法 | 第33-35页 |
| 2.7 运行绝缘子伞裙老化深度检测 | 第35-39页 |
| 2.7.1 线扫描测试复合绝缘子伞裙老化深度 | 第35-38页 |
| 2.7.2 面扫描测试复合绝缘子伞裙老化深度 | 第38-39页 |
| 2.8 本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 500 kV运行复合绝缘子不同位置伞裙老化深度研究 | 第41-52页 |
| 3.1 引言 | 第41-42页 |
| 3.2 实验样品和实验方法 | 第42-44页 |
| 3.2.1 实验样品 | 第42页 |
| 3.2.2 取样方法 | 第42-43页 |
| 3.2.3 实验方法 | 第43-44页 |
| 3.3 实验结果及分析 | 第44-50页 |
| 3.3.1 伞裙显微红外老化深度研究 | 第44-47页 |
| 3.3.2 伞裙有机硅化合物含量变化分析 | 第47-48页 |
| 3.3.3 伞裙小分子含量变化结果分析 | 第48-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 220 kV及110 kV运行复合绝缘子不同位置伞裙老化深度研究 | 第52-64页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 实验样品和实验方法 | 第52-54页 |
| 4.2.1 实验样品 | 第52-53页 |
| 4.2.2 取样方法 | 第53页 |
| 4.2.3 实验方法 | 第53-54页 |
| 4.3 实验结果分析 | 第54-62页 |
| 4.3.1 220 kV伞裙 | 第54-58页 |
| 4.3.2 110 kV伞裙 | 第58-62页 |
| 4.3.3 伞裙老化深度随电压等级变化 | 第62页 |
| 4.4 本章总结 | 第62-64页 |
| 第五章 全文总结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
