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集成电路布图设计的侵权判断标准研究

摘要第2-4页
Abstract第4-5页
导言第8-14页
第一章 确定集成电路布图设计保护范围的依据第14-25页
    第一节 布图设计保护范围之依据的选择第14-15页
    第二节 判断布图设计保护范围依据的司法实践第15-20页
        一、以图样作为优先依据的实践第16-19页
        二、以样品作为优先依据的实践第19-20页
    第三节 对布图设计保护范围依据选择的分析第20-25页
第二章 布图设计独创性的判断第25-32页
    第一节 独创性标准的立法现状第25-27页
        一、专有权人布图设计的独创性第25-26页
        二、反向工程布图设计的独创性第26-27页
    第二节 专有权人布图设计的独创性标准第27-28页
    第三节 反向工程中的独创性标准第28-32页
        一、书面痕迹标准第29页
        二、实质性相同标准第29-30页
        三、功能性优化标准第30-31页
        四、功能附加标准第31-32页
第三章 布图设计实质性相似的判断第32-37页
    第一节 布图设计侵权判断中的实质性相似判断第32-33页
    第二节 实质性相似判断的司法实践第33-35页
        一、实质性相似的判断不以相似百分比为依据第33-35页
        二、实质性相似标准的高低依赖于创新空间的大小第35页
    第三节 实质性相似判断标准构设的建议第35-37页
第四章 对我国法律修改的建议第37-39页
    第一节 集成电路布图设计保护范围的依据第37-38页
    第二节 独创性的判断标准第38页
    第三节 实质性相似的判断第38-39页
结语第39-40页
参考文献第40-43页
在读期间发表的学术论文与研究成果第43-44页
后记第44-46页

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