集成电路布图设计的侵权判断标准研究
摘要 | 第2-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
导言 | 第8-14页 |
第一章 确定集成电路布图设计保护范围的依据 | 第14-25页 |
第一节 布图设计保护范围之依据的选择 | 第14-15页 |
第二节 判断布图设计保护范围依据的司法实践 | 第15-20页 |
一、以图样作为优先依据的实践 | 第16-19页 |
二、以样品作为优先依据的实践 | 第19-20页 |
第三节 对布图设计保护范围依据选择的分析 | 第20-25页 |
第二章 布图设计独创性的判断 | 第25-32页 |
第一节 独创性标准的立法现状 | 第25-27页 |
一、专有权人布图设计的独创性 | 第25-26页 |
二、反向工程布图设计的独创性 | 第26-27页 |
第二节 专有权人布图设计的独创性标准 | 第27-28页 |
第三节 反向工程中的独创性标准 | 第28-32页 |
一、书面痕迹标准 | 第29页 |
二、实质性相同标准 | 第29-30页 |
三、功能性优化标准 | 第30-31页 |
四、功能附加标准 | 第31-32页 |
第三章 布图设计实质性相似的判断 | 第32-37页 |
第一节 布图设计侵权判断中的实质性相似判断 | 第32-33页 |
第二节 实质性相似判断的司法实践 | 第33-35页 |
一、实质性相似的判断不以相似百分比为依据 | 第33-35页 |
二、实质性相似标准的高低依赖于创新空间的大小 | 第35页 |
第三节 实质性相似判断标准构设的建议 | 第35-37页 |
第四章 对我国法律修改的建议 | 第37-39页 |
第一节 集成电路布图设计保护范围的依据 | 第37-38页 |
第二节 独创性的判断标准 | 第38页 |
第三节 实质性相似的判断 | 第38-39页 |
结语 | 第39-40页 |
参考文献 | 第40-43页 |
在读期间发表的学术论文与研究成果 | 第43-44页 |
后记 | 第44-46页 |