| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 快电子能量损失谱学的物理概念和实验方法 | 第8-16页 |
| 1.1 快电子碰撞方法简介 | 第8-11页 |
| 1.2 角分辨的高分辨快电子能量损失谱仪(AREELS)的基本结构和工作原理 | 第11-12页 |
| 1.3 线形和自然线宽 | 第12-15页 |
| 1.3.1 自然线宽 | 第12-15页 |
| 1.3.2 仪器函数 | 第15页 |
| 1.4 电子能量损失谱仪的优势 | 第15-16页 |
| 第二章 Xe原子的内壳层4d激发研究 | 第16-26页 |
| 2.1 Xe原子4d激发的研究现状 | 第16-17页 |
| 2.2 实验测量 | 第17-18页 |
| 2.3 中间耦合系数的计算 | 第18-22页 |
| 2.4 实验结果与讨论 | 第22-26页 |
| 第三章 超高分辨电子能量损失谱仪的模拟设计和研制 | 第26-44页 |
| 3.1 新谱仪研发的意义 | 第26-28页 |
| 3.2 减速透镜 | 第28-33页 |
| 3.3 180°球偏转分析器(180°-SDA) | 第33-35页 |
| 3.4 边缘场问题 | 第35-37页 |
| 3.5 串列型静电偏转型能量分析器 | 第37-41页 |
| 3.6 探测器 | 第41-42页 |
| 3.7 作用室 | 第42页 |
| 3.8 偏转板 | 第42页 |
| 3.9 小结 | 第42-44页 |
| 总结和展望 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 致谢 | 第48-50页 |
| 硕士在读期间发表的学术论文 | 第50页 |