基于0.18μmCMOS工艺的USB电源开关版图研究与设计
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
目录 | 第9-12页 |
第一章 绪论 | 第12-20页 |
1.1 USB 技术发展现状与前景 | 第12-14页 |
1.2 USB 电源管理系统概述 | 第14-17页 |
1.3 课题来源与目标 | 第17页 |
1.4 论文主要工作与内容安排 | 第17-19页 |
1.5 本章小结 | 第19-20页 |
第二章 芯片的总体概述 | 第20-27页 |
2.1 芯片的概述 | 第20-23页 |
2.1.1 芯片的特点 | 第20-21页 |
2.1.2 芯片的应用 | 第21-22页 |
2.1.3 芯片的封装及管脚定义 | 第22-23页 |
2.2 芯片的电学参数 | 第23-25页 |
2.3 芯片的总体框架 | 第25-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 芯片子模块的设计与仿真 | 第27-59页 |
3.1 偏置电流源的设计 | 第27-33页 |
3.1.1 带隙基准源电路的基本原理 | 第27-28页 |
3.1.2 带隙基准电压源启动电路的工作原理 | 第28-29页 |
3.1.3 基准电压和偏置电流的设计 | 第29-30页 |
3.1.4 偏置电路的仿真 | 第30-33页 |
3.2 低压锁定电路的设计 | 第33-37页 |
3.2.1 欠压保护电路的工作原理 | 第33-34页 |
3.2.2 欠压保护电路的设计 | 第34-35页 |
3.2.3 欠压保护电路的仿真和分析 | 第35-37页 |
3.3 过温保护电路的设计 | 第37-41页 |
3.3.1 常用过温保护电路及原理 | 第37-38页 |
3.3.2 过温保护电路的设计 | 第38-39页 |
3.3.3 过温保护电路的仿真和分析 | 第39-41页 |
3.4 振荡器的设计 | 第41-45页 |
3.4.1 RC 振荡器的工作原理 | 第41-43页 |
3.4.2 振荡器的电路设计 | 第43-44页 |
3.4.3 振荡器的仿真与分析 | 第44-45页 |
3.5 电荷泵 | 第45-49页 |
3.5.1 电荷泵的基本原理 | 第45-47页 |
3.5.2 两倍压电荷泵的设计 | 第47-48页 |
3.5.3 倍压电荷泵的仿真 | 第48-49页 |
3.6 过流保护 | 第49-54页 |
3.6.1 过流保护原理 | 第49-50页 |
3.6.2 过流保护电路设计 | 第50-51页 |
3.6.3 过流保护电路的仿真与分析 | 第51-53页 |
3.6.4 过流保护电路的优化设计 | 第53-54页 |
3.7 芯片总体的仿真 | 第54-57页 |
3.7.1 源电流 | 第54-55页 |
3.7.2 功率管的导通电阻 | 第55-57页 |
3.8 本章小结 | 第57-59页 |
第四章 芯片版图的设计 | 第59-81页 |
4.1 工艺介绍 | 第59-60页 |
4.2 设计规则 | 第60-66页 |
4.2.1 LVNMOS 设计规则 | 第60-62页 |
4.2.2 LVPMOS 设计规则 | 第62-63页 |
4.2.3 N 阱电阻 | 第63-64页 |
4.2.4 SPNP 设计规则 | 第64-65页 |
4.2.5 HVNMOS 设计规则 | 第65-66页 |
4.3 版图设计 | 第66-78页 |
4.3.1 电源线 | 第66-68页 |
4.3.2 抗干扰问题 | 第68-70页 |
4.3.3 匹配性设计 | 第70-72页 |
4.3.4 互联线 | 第72-73页 |
4.3.5 ESD 保护电路 | 第73-74页 |
4.3.6 天线效应 | 第74-75页 |
4.3.7 闩锁效应的产生及防治措施 | 第75-77页 |
4.3.8 芯片整体版图的设计 | 第77-78页 |
4.4 设计规则检查与版图验证 | 第78-80页 |
4.5 本章小结 | 第80-81页 |
第五章 测试结果分析 | 第81-94页 |
5.1 芯片测试 | 第81-86页 |
5.2 样品评估 | 第86-88页 |
5.3 ESD 和 LATCH UP测试 | 第88-93页 |
5.4 本章小结 | 第93-94页 |
第六章 总结与展望 | 第94-96页 |
6.1 总结 | 第94页 |
6.2 展望 | 第94-96页 |
参考文献 | 第96-98页 |
致谢 | 第98-99页 |
附录 | 第99-102页 |
1、图录 | 第99-101页 |
2、表录 | 第101-102页 |
攻读硕士学位期间已发表的论文 | 第102页 |