| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 符号说明与缩略语表 | 第16-20页 |
| 第一章 绪论 | 第20-29页 |
| 1.1 研究背景 | 第20-24页 |
| 1.1.1 软错误 | 第20-21页 |
| 1.1.2 处理器 | 第21-23页 |
| 1.1.3 面向处理器的软错误量化问题 | 第23-24页 |
| 1.2 研究动机 | 第24-27页 |
| 1.2.1 相关工作 | 第24-26页 |
| 1.2.2 关键挑战 | 第26-27页 |
| 1.3 创新点 | 第27-28页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第28页 |
| 1.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第二章 软错误量化的背景知识和验证平台 | 第29-40页 |
| 2.1 基本概念和方法 | 第29-32页 |
| 2.1.1 软错误量化指标AVF | 第29页 |
| 2.1.2 典型AVF评估方法FI和ACE | 第29-31页 |
| 2.1.3 概率图模型（PGM） | 第31-32页 |
| 2.2 多位翻转(MCU)的错误模型 | 第32-34页 |
| 2.3 软错误量化的验证平台 | 第34-39页 |
| 2.3.1 单核 | 第34-36页 |
| 2.3.2 众核NoC | 第36-39页 |
| 2.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 面向单核SBU的概率图模型驱动的量化方法研究 | 第40-66页 |
| 3.1 面向单核SBU的软错误量化问题描述和定义 | 第40-41页 |
| 3.1.1 目标对象 | 第40-41页 |
| 3.1.2 形式化的问题描述 | 第41页 |
| 3.2 观察和分析：错误屏蔽和错误蔓延 | 第41-45页 |
| 3.2.1 错误屏蔽 | 第42-43页 |
| 3.2.2 错误蔓延 | 第43-44页 |
| 3.2.3 错误屏蔽和错误蔓延的联合效应 | 第44-45页 |
| 3.3 错误屏蔽感知的PGM优化方法 | 第45-50页 |
| 3.3.1 贝叶斯网络映射与表达 | 第45-47页 |
| 3.3.2 结构（依赖子图）学习 | 第47页 |
| 3.3.3 节点参数学习 | 第47-49页 |
| 3.3.4 VE推断算法 | 第49-50页 |
| 3.4 PGM优化方法的三种不同实现方案 | 第50-59页 |
| 3.4.1 基于一阶屏蔽效应的快速分析方法(MEA-PGM-FO) | 第50-54页 |
| 3.4.2 启发式快速近似量化模型(MEA-PGM-HMM) | 第54-57页 |
| 3.4.3 基于多阶屏蔽的截断式推断量化方法(MEA-PGM-HO) | 第57-59页 |
| 3.5 基于仿真的PGM优化方案验证 | 第59-64页 |
| 3.5.1 评估精度对比 | 第59-60页 |
| 3.5.2 评估速度对比 | 第60-62页 |
| 3.5.3 截断式推断的参数效应 | 第62-63页 |
| 3.5.4 三种实现方案综合对比 | 第63-64页 |
| 3.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 第四章 面向单核MCU的边界分析模型驱动的量化方法研究 | 第66-76页 |
| 4.1 面向单核MCU软错误量化问题描述和定义 | 第66-67页 |
| 4.1.1 目标对象 | 第66页 |
| 4.1.2 形式化的问题描述 | 第66-67页 |
| 4.2 基于直方图的边界模型优化方案Hi Bo M方法 | 第67-72页 |
| 4.2.1 边界模型 | 第67-69页 |
| 4.2.2 基于直方图的间隔分析 | 第69-71页 |
| 4.2.3 Hi Bo M完整算法 | 第71-72页 |
| 4.3 基于仿真的Hi Bo M验证 | 第72-75页 |
| 4.3.1 SBU评估方法对Hi Bo M量化结果的影响 | 第72-73页 |
| 4.3.2 基于直方图的间隔数对Hi Bo M量化结果的影响 | 第73-75页 |
| 4.3.3 HiBoM的综合评价 | 第75页 |
| 4.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 面向众核No C的预分析模型驱动的软错误量化方法研究 | 第76-107页 |
| 5.1 面向众核No C的软错误量化方法的问题描述和定义 | 第76-77页 |
| 5.1.1 目标对象 | 第76页 |
| 5.1.2 形式化的问题描述 | 第76-77页 |
| 5.2 基于PRP量化体系的并发注入统计方法 | 第77-90页 |
| 5.2.1 方法描述 | 第77-80页 |
| 5.2.2 仿真验证 | 第80-90页 |
| 5.3 面向MCU的预分析加速统计方法 | 第90-106页 |
| 5.3.1 方法描述 | 第90-95页 |
| 5.3.2 仿真验证 | 第95-106页 |
| 5.4 本章小节 | 第106-107页 |
| 第六章 总结与展望 | 第107-109页 |
| 6.1 工作小结 | 第107页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第107-108页 |
| 6.3 本章小节 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-117页 |
| 附录 1：alpha-21264基于操作码的指令级错误屏蔽因子计算表 | 第117-118页 |
| 附录 2：alpha-21264基于位扩展的指令级错误屏蔽因子计算表 | 第118-119页 |
| 附录 3：alpha-21264基于消毒指令的指令级错误屏蔽因子计算表 | 第119-120页 |
| 攻读博士学位期间已发表或录用的论文 | 第120-122页 |
| 攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第122-123页 |
| 致谢 | 第123页 |
