| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 负载电容器充电电源研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.1 负载电容充电方式 | 第11-12页 |
| 1.2.2 真空下充电电源面临的问题 | 第12页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第12-14页 |
| 2 主电路拓扑选取及工作原理分析 | 第14-23页 |
| 2.1 主电路拓扑选取 | 第14-15页 |
| 2.2 串联谐振变换器电路分析 | 第15-22页 |
| 2.2.1 串联谐振变换器的工作模式及其等效电路 | 第16-18页 |
| 2.2.2 考虑寄生电容 SRC 的工作模式及其等效电路 | 第18-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 主电路设计及损耗计算 | 第23-41页 |
| 3.1 电源主电路设计 | 第23-31页 |
| 3.1.1 电源性能指标与结构 | 第23页 |
| 3.1.2 高压变压器设计 | 第23-25页 |
| 3.1.3 谐振元件的选取 | 第25页 |
| 3.1.4 开关管的选取 | 第25-26页 |
| 3.1.5 电源的控制策略 | 第26-27页 |
| 3.1.6 电源共模干扰分析 | 第27-29页 |
| 3.1.7 仿真波形及结果 | 第29-31页 |
| 3.2 高压电源损耗计算 | 第31-40页 |
| 3.2.1 电流采样电阻损耗 | 第31-32页 |
| 3.2.2 放电保护回路电阻损耗 | 第32-33页 |
| 3.2.3 高压侧整流二极管损耗 | 第33-34页 |
| 3.2.4 磁性元件损耗 | 第34-36页 |
| 3.2.5 功率开关管（MOS 管）损耗 | 第36-39页 |
| 3.2.6 输入级二极管损耗 | 第39页 |
| 3.2.7 供电模块损耗 | 第39-40页 |
| 3.2.8 损耗分析 | 第40页 |
| 3.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 真空环境问题 | 第41-45页 |
| 4.1 真空下热问题 | 第41-43页 |
| 4.1.1 电子设备的散热问题 | 第41页 |
| 4.1.2 真空环境对散热的影响 | 第41-42页 |
| 4.1.3 真空环境下的散热措施 | 第42-43页 |
| 4.2 真空下辐射干扰问题 | 第43-44页 |
| 4.2.1 辐射干扰问题 | 第43-44页 |
| 4.2.2 辐射干扰的解决措施 | 第44页 |
| 4.3 真空下高压绝缘问题 | 第44页 |
| 4.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 5 电源的实验和分析 | 第45-50页 |
| 5.1 电源整机结构 | 第45页 |
| 5.2 高压电源实验 | 第45-49页 |
| 5.2.1 高压电源充电实验 | 第45-46页 |
| 5.2.2 高压电源充电保持实验 | 第46-48页 |
| 5.2.3 高压电源损耗实验 | 第48页 |
| 5.2.4 损耗实验分析 | 第48-49页 |
| 5.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 6 全文总结及未来工作展望 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |