基于CMOS图像的陶瓷基片检测的算法研究与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外机器视觉检测技术的研究状况 | 第9-11页 |
| ·课题研究的主要内容和论文结构安排 | 第11-13页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第11-12页 |
| ·论文的结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 数字图像采集与预处理 | 第13-30页 |
| ·CMOS图像传感器技术 | 第13-14页 |
| ·CMOS图像采集系统 | 第14-17页 |
| ·WDM驱动程序设计 | 第14-16页 |
| ·CMOS图像采集 | 第16-17页 |
| ·数字图像预处理 | 第17-29页 |
| ·数字图像基本概念 | 第18页 |
| ·数字图像噪声模型 | 第18-21页 |
| ·图像增强 | 第21-25页 |
| ·图像噪声的抑制 | 第25-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 数字图像边缘提取 | 第30-40页 |
| ·图像分割概述 | 第30页 |
| ·图像边缘检测 | 第30-37页 |
| ·图像边缘 | 第31-32页 |
| ·边缘检测算子 | 第32-37页 |
| ·基于Roberts算子的边缘细化算法 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 基于亚像素细分的陶瓷基片精确定位方法 | 第40-53页 |
| ·亚像素细分定位基本原理 | 第40-42页 |
| ·亚像素细分算法 | 第42-52页 |
| ·常见亚像素细分算法 | 第42-47页 |
| ·空间矩亚像素图像细分算法 | 第47-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 系统标定与实验结果分析 | 第53-74页 |
| ·摄像机标定技术概述 | 第53页 |
| ·摄像机成像原理 | 第53-57页 |
| ·参考坐标系 | 第54-56页 |
| ·成像系统中的成像模型 | 第56-57页 |
| ·常用测量系统标定技术 | 第57-58页 |
| ·系统标定要求与标定方案 | 第58-67页 |
| ·光学中心标定 | 第59-60页 |
| ·角点检测及像素间距标定 | 第60-64页 |
| ·光学畸变标定 | 第64-67页 |
| ·系统标定实验 | 第67-69页 |
| ·测量误差及精度分析 | 第69-73页 |
| ·测量精度分析 | 第69-72页 |
| ·误差来源 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第79页 |
