中文摘要 | 第1-8页 |
英文摘要 | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
·研究背景 | 第10-13页 |
·环境介质的总α测量是环境放射性监测工作的重要组成部分 | 第10-11页 |
·环境介质总α测量方法的研究现状与存在的主要问题 | 第11-12页 |
·BaFX成像板技术的利用有望解决大量环境样品的总α测量需求 | 第12-13页 |
·本研究的主要目的与主要研究内容 | 第13-15页 |
·本研究的主要成果 | 第15-16页 |
第二章 BaFX成像板的辐射探测基础特性研究 | 第16-29页 |
·引言 | 第16页 |
·BaFX成像板及其辐射探测原理 | 第16-20页 |
·BaFX成像板的剂量响应特性 | 第20-24页 |
·实验用辐射源与照射方法 | 第20-22页 |
·结果与分析 | 第22-24页 |
·双层成像板的探测特性 | 第24-26页 |
·实验方法 | 第24页 |
·结果与分析 | 第24-26页 |
·成像板上辐射信号的多次读取特性 | 第26-27页 |
·实验方法 | 第26页 |
·结果与分析 | 第26-27页 |
·小结 | 第27-29页 |
第三章 BaFX成像板上辐射信号的衰退特性 | 第29-46页 |
·引言 | 第29页 |
·衰退特性的研究现状及存在问题 | 第29-30页 |
·不同射线种类照射后的衰退特性 | 第30-32页 |
·实验材料与方法 | 第30-31页 |
·结果与分析 | 第31-32页 |
·不同温度条件下的衰退特性 | 第32-39页 |
·实验材料与方法 | 第32-34页 |
·结果与分析 | 第34-39页 |
·IP衰退机理的理论探讨 | 第39-45页 |
·IP衰退机制的假设 | 第39-41页 |
·推论与验证 | 第41-43页 |
·衰退公式的机制解释与验证 | 第43-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
第四章 BaFX成像板上α辐射信号的甄别与计数 | 第46-73页 |
·引言 | 第46页 |
·不同射线照射后PSL值分布的基本特征 | 第46-49页 |
·研究方法 | 第47页 |
·结果与分析 | 第47-49页 |
·α粒子径迹甄别方法的建立 | 第49-53页 |
·射线种类甄别的技术原理 | 第49-51页 |
·甄别阈值的选择与优化 | 第51-52页 |
·径迹重叠效应的修正 | 第52-53页 |
·粒子甄别性能和误差的评估 | 第53-61页 |
·计数的线性响应 | 第53-55页 |
·探测下限 | 第55-57页 |
·测量误差 | 第57-58页 |
·β粒子对于α粒子计数的影响 | 第58-61页 |
·衰退效应对于α粒子径迹计数的影响及其修正 | 第61-62页 |
·α粒子径迹甄别与计数软件的开发 | 第62-66页 |
·不同径迹甄别技术的比较 | 第66-71页 |
·与现有径迹计数方法的比较 | 第66-69页 |
·与双层IP法的比较 | 第69-71页 |
·小结 | 第71-73页 |
第五章 BaFX成像板的探测效率计算与验证 | 第73-90页 |
·引言 | 第73页 |
·BaFX成像板探测特性的蒙特卡罗计算 | 第73-84页 |
·BaFX成像板的数学模型 | 第74-77页 |
·探测效率参数的确定 | 第77-79页 |
·IP对α粒子探测特性的模拟计算 | 第79-84页 |
·IP探测效率的能量刻度 | 第84-87页 |
·IP对于微量α放射性样品定量测量的验证实验 | 第87-88页 |
·小结 | 第88-90页 |
第六章 BaFX成像板在α放射性测量中的应用 | 第90-101页 |
·引言 | 第90页 |
·氡子体浓度的测量 | 第90-93页 |
·采样与测量过程及方法 | 第90-92页 |
·测量结果与讨论 | 第92-93页 |
·~(220)Rn室内~(220)Rn浓度均匀性的检验 | 第93-95页 |
·测量与计数方法 | 第94页 |
·测量结果与讨论 | 第94-95页 |
·采样滤膜对氡子体自吸收特性的测量 | 第95-98页 |
·测量程序与方法 | 第96-97页 |
·测量结果与分析 | 第97-98页 |
·稀土样品总α活度的批量测量 | 第98-100页 |
·测量方法 | 第99页 |
·测量结果与分析 | 第99-100页 |
·小结 | 第100-101页 |
第七章 总结与展望 | 第101-104页 |
·本研究工作总结 | 第101-102页 |
·本研究的特色与创新 | 第102-103页 |
·本研究的不足与展望 | 第103-104页 |
参考文献 | 第104-111页 |
附录 | 第111-131页 |
附录一:博士期间发表的学术论文 | 第111-113页 |
附录二:IP分析软件主要计算代码 | 第113-122页 |
附录三:Geant4计算IP探测特性的代码 | 第122-126页 |
附录四:综述 | 第126-131页 |
致谢 | 第131-132页 |