| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 序言 | 第10-13页 |
| 1 引言 | 第13-23页 |
| 1.1 分子自组装的研究背景 | 第13-18页 |
| 1.1.1 自组装的基本概念和原理 | 第13-14页 |
| 1.1.2 分子自组装的主要技术方法 | 第14-16页 |
| 1.1.3 影响分子自组装的各方面因素 | 第16-17页 |
| 1.1.4 分子自组装的应用 | 第17-18页 |
| 1.2 聚噻吩衍生物自组装研究进展 | 第18-19页 |
| 1.3 自组装形貌的表征方法 | 第19-21页 |
| 1.3.1 扫描隧道显微技术 | 第19-21页 |
| 1.3.2 原子力显微技术 | 第21页 |
| 1.3.3 扫描电子显微镜技术 | 第21页 |
| 1.4 本文研究内容概述 | 第21-23页 |
| 2 噻吩衍生物NTZ12的分子自组装研究 | 第23-26页 |
| 2.1 NTZ12分子自组装薄膜的制备 | 第23页 |
| 2.2 实验结果 | 第23-25页 |
| 2.3 结论 | 第25-26页 |
| 3 聚噻吩衍生物P3HT的自组装研究 | 第26-32页 |
| 3.1 聚-3己基噻吩分子的自组装 | 第26-28页 |
| 3.2 实验原料及设备 | 第28页 |
| 3.3 实验准备工作 | 第28-29页 |
| 3.4 基于混合溶剂法的P3HT的自组装 | 第29-32页 |
| 4 溶液浓度、溶解温度及旋涂速率对P3HT自组装的影响 | 第32-41页 |
| 4.1 不同浓度对P3HT纳米线的自组装的影响 | 第32-35页 |
| 4.2 不同溶解温度对P3HT纳米线的自组装的影响 | 第35-38页 |
| 4.3 不同旋涂速率对P3HT纳米线的自组装的影响 | 第38-41页 |
| 5 自组装P3HT薄膜在晶体管器件中的性能测试 | 第41-44页 |
| 6 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 作者简历 | 第47-49页 |
| 学位论文数据集 | 第49页 |
