| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 经络研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.3 经络实质及定位方法的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.4 经络的电阻抗特性研究 | 第12-16页 |
| 1.4.1 经络的电阻抗特性研究概况 | 第13-14页 |
| 1.4.2 经络电阻抗特性研究中存在的问题 | 第14-16页 |
| 1.5 本文的研究目的、内容及结构 | 第16-17页 |
| 第二章 电阻抗成像及磁探测电阻抗成像 | 第17-27页 |
| 2.1 电阻抗成像的发展概况 | 第17-23页 |
| 2.2 磁探测电阻抗成像的基本原理 | 第23-25页 |
| 2.3 磁探测电阻抗成像的研究历史及现状 | 第25-26页 |
| 2.4 小结 | 第26-27页 |
| 第三章 磁探测电阻抗成像测量系统 | 第27-55页 |
| 3.1 系统总体设计 | 第27-28页 |
| 3.2 激励源的设计 | 第28-31页 |
| 3.2.1 直接数字频率合成器（DDS） | 第28-31页 |
| 3.2.2 功率放大电路 | 第31页 |
| 3.3 传感器的设计 | 第31-35页 |
| 3.4 机械扫描装置 | 第35-40页 |
| 3.4.1 机械装置 | 第35-37页 |
| 3.4.2 驱动电路 | 第37-40页 |
| 3.5 测量电路 | 第40-50页 |
| 3.5.1 测量电路的整体设计 | 第40-43页 |
| 3.5.2 与系统比例测量法相结合的正交锁相放大技术 | 第43-50页 |
| 3.6 数据采集和传输 | 第50-52页 |
| 3.6.1 单片机的软件控制 | 第51-52页 |
| 3.6.2 上位机数据处理 | 第52页 |
| 3.7 磁探测系统的初步测量实验 | 第52-54页 |
| 3.8 小结 | 第54-55页 |
| 第四章 磁探测电阻抗成像的逆问题 | 第55-78页 |
| 4.1 逆问题 | 第55-56页 |
| 4.2 最小二乘问题 | 第56-57页 |
| 4.3 不适定问题 | 第57-58页 |
| 4.4 带非负约束的正则化方法 | 第58-61页 |
| 4.4.1 离散Picard 条件 | 第58-59页 |
| 4.4.2 TSVD 正则化 | 第59页 |
| 4.4.3 Tikhonov 正则化 | 第59-60页 |
| 4.4.4 带非负约束的正则化 | 第60-61页 |
| 4.5 正则化参数的选择方法 | 第61-64页 |
| 4.5.1 L 曲线 | 第62-63页 |
| 4.5.2 广义交叉验证 | 第63-64页 |
| 4.6 仿真实验 | 第64-77页 |
| 4.6.1 基于模型构造矩阵 | 第64-67页 |
| 4.6.2 图像重建结果 | 第67-77页 |
| 4.7 小结 | 第77-78页 |
| 第五章 结论与展望 | 第78-80页 |
| 5.1 结论 | 第78-79页 |
| 5.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-87页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |