| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 铁电体简介 | 第8-12页 |
| 1.1.1 基本概念简介 | 第8-9页 |
| 1.1.2 晶体结构简介 | 第9-10页 |
| 1.1.3 弛豫性铁电体 | 第10-11页 |
| 1.1.4 准同型相界 | 第11-12页 |
| 1.2 压电体简介 | 第12-13页 |
| 1.2.1 压电效应 | 第12-13页 |
| 1.2.2 压电陶瓷 | 第13页 |
| 1.2.3 压电陶瓷的应用 | 第13页 |
| 1.3 电学性质基本概念 | 第13-15页 |
| 1.3.1 铁电性能 | 第13-14页 |
| 1.3.2 压电性能 | 第14页 |
| 1.3.3 介电性能 | 第14-15页 |
| 1.4 本课题来源与意义 | 第15-16页 |
| 1.5 国内外研究现状 | 第16-18页 |
| 1.6 本论文主要工作内容 | 第18-20页 |
| 第2章 实验方法及原理介绍 | 第20-26页 |
| 2.1 陶瓷制备方法-固相反应法 | 第20-21页 |
| 2.2 陶瓷的结构及表面形貌表征 | 第21-23页 |
| 2.2.1 X 射线衍射分析(XRD) | 第21-22页 |
| 2.2.2 Raman 光谱测试 | 第22-23页 |
| 2.2.3 扫描电子显微镜(SEM) | 第23页 |
| 2.3 电学性能测试方法 | 第23-25页 |
| 2.3.1 铁电性能 | 第23-24页 |
| 2.3.2 压电性能 | 第24页 |
| 2.3.3 介电性能 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 XPNN-(1-X)PHT 陶瓷的制备、结构表征及准同型相界的研究 | 第26-38页 |
| 3.1 XPNN-(1-X)PHT 陶瓷的制备及 X 射线衍射分析 | 第26-31页 |
| 3.1.1 前驱体制备 | 第26-28页 |
| 3.1.2 预烧合成 | 第28-29页 |
| 3.1.3 烧结成瓷 | 第29-30页 |
| 3.1.4 制备条件小结 | 第30-31页 |
| 3.2 微观形貌 | 第31-32页 |
| 3.3 利用 XRD 测试图研究 XPNN-(1-X)PHT 陶瓷准同型相界 | 第32-33页 |
| 3.4 利用拉曼光谱研究 XPNN-(1-X)PHT 陶瓷准同型相界 | 第33-35页 |
| 3.5 烧结温度对 0.2PNN-0.8PHT 陶瓷的影响 | 第35-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 0.2PNN-0.8PHT 陶瓷电学性能的研究 | 第38-52页 |
| 4.1 铁电性能研究 | 第38-41页 |
| 4.1.1 相同烧结温度 x=0.1-0.4 组分 xPNN-(1-x)PHT 陶瓷 | 第38-39页 |
| 4.1.2 不同烧结温度 0.2PNN-0.8PHT 陶瓷铁电性能 | 第39-41页 |
| 4.1.3 铁电性能研究小结 | 第41页 |
| 4.2 压电性能研究 | 第41-43页 |
| 4.2.1 相同烧结温度 x=0.1-0.4 组分 xPNN-(1-x)PHT 陶瓷 | 第41页 |
| 4.2.2 不同烧结温度 0.2PNN-0.8PHT 陶瓷 | 第41-42页 |
| 4.2.3 谐振频率与机电耦合系数 | 第42-43页 |
| 4.2.4 压电性能小结 | 第43页 |
| 4.3 介电性能 | 第43-50页 |
| 4.3.1 相同烧结温度 x=0.1-0.4 组分 xPNN-(1-x)PHT 陶瓷 | 第44-49页 |
| 4.3.2 不同烧结温度 0.2PNN-0.8PHT 陶瓷 | 第49-50页 |
| 4.3.3 介电性能小结 | 第50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
