| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 高温超导薄膜 | 第10-11页 |
| 1.2 高温超导微波表面电阻分布的测试方法 | 第11-13页 |
| 1.2.1 双介质法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 准光学腔测试法 | 第12-13页 |
| 1.3 选题意义及研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 镜像介质谐振器法理论 | 第15-28页 |
| 2.1 镜像介质谐振器法原理 | 第15-16页 |
| 2.2 校准步骤 | 第16-25页 |
| 2.2.1“理想电阻面”的获取 | 第17-23页 |
| 2.2.2 A值和B值的获取 | 第23-25页 |
| 2.3 无载品质因数的测量 | 第25-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 新的HTS薄膜微波表面电阻分布测试装置的研制 | 第28-47页 |
| 3.1 分布测试装置的不足 | 第28页 |
| 3.2 新的分布测试装置模型 | 第28-31页 |
| 3.3 谐振腔的结构设计及仿真优化 | 第31-38页 |
| 3.3.1 材料选择 | 第31页 |
| 3.3.2 腔体设计 | 第31-38页 |
| 3.4 本征模式下测试装置的测试仿真 | 第38-40页 |
| 3.5 耦合结构的设计及仿真优化 | 第40-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 分布测试装置准确校准的设计 | 第47-72页 |
| 4.1 A值的准确获取 | 第47-61页 |
| 4.1.1 理论分析 | 第47-50页 |
| 4.1.2 蓝宝石配对选择 | 第50-58页 |
| 4.1.3 金属环 | 第58-60页 |
| 4.1.4 销钉紧配合 | 第60-61页 |
| 4.2 B值的准确获得 | 第61-71页 |
| 4.2.1 设计镀金谐振腔 | 第62-70页 |
| 4.2.2 金板和金腔的加工 | 第70-71页 |
| 4.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 第五章 实验结果及分析 | 第72-84页 |
| 5.1 测试实验的准备工作 | 第72-73页 |
| 5.2 分布测试装置的校准实验 | 第73-76页 |
| 5.3 分布测试的结果及分析 | 第76-83页 |
| 5.4 本章小结 | 第83-84页 |
| 第六章 结论 | 第84-86页 |
| 6.1 总结 | 第84页 |
| 6.2 展望 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |