| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 石英摆片外形参数测量国内外研究概况 | 第13-14页 |
| 1.2.1 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 国外研究概况 | 第14页 |
| 1.3 图像测量国内外研究概况] | 第14-16页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 石英摆片外形尺寸测量系统设计 | 第17-25页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 测量系统的构成 | 第17-23页 |
| 2.2.1 光源 | 第18-19页 |
| 2.2.2 CCD成像系统 | 第19-20页 |
| 2.2.3 大理石气浮轴系测量平台 | 第20-21页 |
| 2.2.4 PMAC运动控制卡基本介绍 | 第21-22页 |
| 2.2.5 伺服电机 | 第22页 |
| 2.2.6 光栅尺编码器 | 第22-23页 |
| 2.2.7 石英摆片外形参数测量方法 | 第23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-25页 |
| 第3章 石英摆片图像测量技术 | 第25-51页 |
| 3.1 图像处理技术的必要性 | 第25页 |
| 3.2 数字图像 | 第25-27页 |
| 3.2.1 图像的存储及表示 | 第25页 |
| 3.2.2 BMP文件的结构 | 第25-26页 |
| 3.2.3 数字图像的矩阵表示 | 第26-27页 |
| 3.3 图像测量用到的预处理算法 | 第27-33页 |
| 3.3.1 图像中的噪声 | 第28页 |
| 3.3.2 数字图像的平滑 | 第28-32页 |
| 3.3.3 阈值分割 | 第32-33页 |
| 3.4 图像测量的边缘检测算法 | 第33-41页 |
| 3.4.1 传统像素级边缘检测算法 | 第34-35页 |
| 3.4.2 一阶微分法 | 第35-37页 |
| 3.4.3 二阶微分法 | 第37-39页 |
| 3.4.4 Canny算子 | 第39页 |
| 3.4.5 传统算子检测效果比较 | 第39-41页 |
| 3.5 亚像素边缘定位技术 | 第41-43页 |
| 3.5.1 亚像素定位精度 | 第41-42页 |
| 3.5.2 常用的亚像素定位技术 | 第42-43页 |
| 3.6 矩的亚像素定位技术 | 第43-50页 |
| 3.6.1 Zernike矩定位原理 | 第43-48页 |
| 3.6.2 本文采用的Sobel-Zernike边缘定位方法 | 第48-50页 |
| 3.7 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 测量系统软件设计 | 第51-59页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 软件编译环境 | 第51页 |
| 4.2.1 MFC | 第51页 |
| 4.2.2 C++程序语言 | 第51页 |
| 4.3 软件系统设计 | 第51-57页 |
| 4.3.1 图像采集显示功能实现 | 第52-53页 |
| 4.3.2 二值化 | 第53-54页 |
| 4.3.3 Sobel-Zernike矩亚像素边缘检测 | 第54-55页 |
| 4.3.4 摆片外形尺寸的测量 | 第55-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 测量实验 | 第59-63页 |
| 5.1 实验介绍 | 第59页 |
| 5.2 系统标定 | 第59-60页 |
| 5.3 实验结果及分析 | 第60-61页 |
| 5.4 测量误差分析 | 第61-62页 |
| 5.4.1 硬件因素引起的误差 | 第61页 |
| 5.4.2 环境影响因素 | 第61-62页 |
| 5.4.3 软件因素的影响 | 第62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |