基于SIW技术的振荡器研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略词表 | 第14-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第15-17页 |
| 1.2 SIW振荡器的发展现状 | 第17-18页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第18-19页 |
| 第二章基片集成波导振荡器设计基础 | 第19-32页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 SIW技术的理论基础 | 第19-27页 |
| 2.2.1 SIW技术的理论基础 | 第19-22页 |
| 2.2.2 常用SIW腔体的结构 | 第22-23页 |
| 2.2.3 SIW腔体与微带线的过渡 | 第23-27页 |
| 2.3 振荡器设计的理论基础 | 第27-31页 |
| 2.3.1 反射型振荡器设计的基本原理 | 第28页 |
| 2.3.2 反馈型振荡器设计的基本原理 | 第28-29页 |
| 2.3.3 振荡器的相位噪声 | 第29-31页 |
| 2.4 间隙电容的设计 | 第31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于基片集成波导技术的反射型振荡器的设计 | 第32-48页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 正六边形SIW腔体的设计 | 第32-35页 |
| 3.3 静态工作电路和高频厄流电路的设计 | 第35-38页 |
| 3.4 软件仿真 | 第38-41页 |
| 3.4.1 原理图仿真 | 第38-40页 |
| 3.4.2 版图-原理图仿真 | 第40-41页 |
| 3.5 测量结果 | 第41-44页 |
| 3.6 测试分析 | 第44-47页 |
| 3.6.1 测试结果分析 | 第44-45页 |
| 3.6.2 SIW技术优势分析 | 第45-46页 |
| 3.6.3 误差分析 | 第46-47页 |
| 3.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 基于基片集成波导技术的反馈型振荡器的设计 | 第48-64页 |
| 4.1 引言 | 第48页 |
| 4.2 滤波器的设计基础 | 第48-52页 |
| 4.3 HMSIW窄带滤波器的设计 | 第52-54页 |
| 4.4 高频厄流电路的设计 | 第54-55页 |
| 4.5 软件仿真 | 第55-59页 |
| 4.5.1 原理图仿真 | 第55-57页 |
| 4.5.2 版图-原理图仿真 | 第57-59页 |
| 4.6 测试结果 | 第59-62页 |
| 4.7 测试分析 | 第62-63页 |
| 4.7.1 测试结果分析 | 第62页 |
| 4.7.2 技术优势分析 | 第62-63页 |
| 4.7.3 误差分析 | 第63页 |
| 4.8 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 基于基片集成波导技术的压控振荡器的设计 | 第64-80页 |
| 5.1 引言 | 第64页 |
| 5.2 可调谐的SIW正方形腔体的设计 | 第64-67页 |
| 5.3 高频厄流电路的设计 | 第67-68页 |
| 5.4 软件仿真 | 第68-73页 |
| 5.4.1 原理图仿真 | 第68-71页 |
| 5.4.2 版图-原理图仿真 | 第71-73页 |
| 5.5 测量结果 | 第73-77页 |
| 5.6 测试分析 | 第77-79页 |
| 5.6.1 测试结果分析 | 第77-78页 |
| 5.6.2 技术优势分析 | 第78页 |
| 5.6.3 误差分析 | 第78-79页 |
| 5.7 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-89页 |
| 攻硕期间取得的成果 | 第89-90页 |
