大功率模拟集成电路直流参数测试研究与实现
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
·课题研究背景和意义 | 第9-10页 |
·集成电路测试系统的组成与分类 | 第10-13页 |
·集成电路测试系统发展现状 | 第13-14页 |
·课题的主要研究内容 | 第14-16页 |
第二章 直流参数测试技术概述 | 第16-26页 |
·集成电路测试原理概述 | 第16-17页 |
·集成电路测试原理 | 第16页 |
·集成电路测试的分类 | 第16-17页 |
·直流参数测试技术 | 第17-20页 |
·开路/短路测试 | 第18页 |
·漏电流测试 | 第18-19页 |
·电源电流测试 | 第19页 |
·输入偏移电压测试 | 第19-20页 |
·直流增益测试 | 第20页 |
·电源电压抑制比测试 | 第20页 |
·模拟集成电路测试连接方法 | 第20-25页 |
·伏安法与电桥法 | 第21-24页 |
·伏安法 | 第21-22页 |
·电桥法 | 第22-24页 |
·开尔文连接测试法 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第三章 硬件电路设计 | 第26-53页 |
·集成电路测试系统简介 | 第26-29页 |
·大功率模拟集成电路测试板硬件设计 | 第29-50页 |
·设计分析与方案 | 第29-31页 |
·精密测量单元原理 | 第31-37页 |
·FVMI 电路分析 | 第32-35页 |
·FIMV 电路分析 | 第35-37页 |
·总线接口硬件设计 | 第37-39页 |
·系统总线 | 第37-38页 |
·总线接口设计 | 第38-39页 |
·PMU 硬件设计设计 | 第39-50页 |
·功率放大器设计 | 第40-41页 |
·电流检测设计 | 第41-42页 |
·电压检测设计 | 第42-43页 |
·控制放大器设计 | 第43-44页 |
·ADC 设计 | 第44-46页 |
·DAC 设计 | 第46-50页 |
·控制逻辑设计 | 第50-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第四章 测试驱动函数设计 | 第53-62页 |
·测试驱动函数设计 | 第53-60页 |
·测试函数接口设计与定义 | 第54-58页 |
·测试函数流程 | 第58-60页 |
·校准设计 | 第60-61页 |
·本章小节 | 第61-62页 |
第五章 调试实验与实际应用 | 第62-72页 |
·单板调试实验 | 第62-67页 |
·电压调试实验 | 第62-64页 |
·电流调试实验 | 第64-67页 |
·生产应用 | 第67-71页 |
·集成运算放大器测试方法 | 第67-70页 |
·MC4558 测试数据 | 第70-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
第六章 结论 | 第72-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |