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温度变化引起的液晶微流动测量技术研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
主要符号表第11-12页
1 绪论第12-20页
    1.1 课题来源、研究背景及研究意义第12-14页
        1.1.1 课题来源和研究背景第12-13页
        1.1.2 课题研究的意义第13-14页
    1.2 国内外现状分析第14-17页
    1.3 论文研究的技术路线与创新点第17-19页
        1.3.1 论文的研究技术路线第17-19页
        1.3.2 论文创新点第19页
    1.4 本章小结第19-20页
2 温度变化引起的液晶微流动产生机理第20-26页
    2.1 液晶第20-23页
        2.1.1 液晶的分类第20-21页
        2.1.2 液晶 5CB的宏观对称性第21-22页
        2.1.3 液晶 5CB的相变第22-23页
    2.2 温度变化对液晶相的影响第23-25页
        2.2.1 液晶的有序参数第23页
        2.2.2 液晶缺陷第23-25页
        2.2.3 液晶缺陷与液晶微流动关系第25页
    2.3 本章小结第25-26页
3 液晶微流动测量仪器显微镜冷热台的设计与制作第26-35页
    3.1 总体设计方案第26页
    3.2 电冷热台结构:第26-30页
        3.2.1 台体设计第27-29页
        3.2.2 台体的辅助元件第29-30页
    3.3 电冷热台控制系统:第30-32页
        3.3.1 硬件系统第30-31页
        3.3.2 软件系统第31页
        3.3.3 电冷热台控制流程第31-32页
    3.4 实物制作与仿真第32-34页
        3.4.1 控制系统仿真第32-33页
        3.4.2 实物制作第33页
        3.4.3 电冷热台实现功能与技术参数第33-34页
    3.5 本章小结第34-35页
4 测量系统的搭建及优化第35-77页
    4.1 液晶微流动测量系统硬件部分搭建第35-37页
        4.1.1 测量系统特点第35页
        4.1.2 测量系统构成第35-37页
    4.2 微流动产生部分—液晶盒制作第37-41页
        4.2.1 液晶盒的制作第38-40页
        4.2.2 液晶盒基片涂层第40-41页
    4.3 测量系统性能测试及优化改进第41-68页
        4.3.1 性能测试实验第一阶段,液晶缺陷的产生第41-46页
        4.3.2 性能测试实验第二阶段,液晶缺陷的数目增加第46-53页
        4.3.3 测量实验第三阶段,液晶缺陷时间的延长第53-68页
    4.4 测量实验视频数据的后处理第68-76页
        4.4.1 视频图像的预处理第70-72页
        4.4.2 倾斜角计算第72-73页
        4.4.3 微流动速度计算第73-75页
        4.4.4 计算结果第75-76页
    4.5 本章小结第76-77页
5 液晶 5CB分子模拟实验第77-89页
    5.1 液晶 5CB分子动力学模拟理论分析第78-82页
        5.1.1 Gay-Berne势能引入第78-80页
        5.1.2 运动方程以及数值积分算法第80-82页
    5.2 数值计算进程第82-85页
        5.2.1 Material Studio软件简介第82-83页
        5.2.2 5CB液晶分子操作步骤第83-85页
    5.3 模拟结果第85-88页
        5.3.1 结果数据提取第85-88页
        5.3.2 结果分析第88页
    5.4 本章小结第88-89页
6 液晶微流动控制技术初探第89-92页
    6.1 液晶盒的制作工艺第89-90页
    6.2 实验结果第90-91页
    6.3 本章小结第91-92页
结论与展望第92-94页
参考文献第94-99页
致谢第99-100页
附录 1第100-101页
附录 2第101-103页
附录 3第103-105页
附录 4第105-107页
个人简历第107-108页

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