| 摘要 | 第12-14页 |
| Abstract | 第14-15页 |
| 第一章 绪论 | 第16-29页 |
| 1.1 课题背景意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-27页 |
| 1.2.1 传统隐身方法 | 第17-23页 |
| 1.2.1.1 赋形隐身技术 | 第17-19页 |
| 1.2.1.2 吸波体隐身技术 | 第19-22页 |
| 1.2.1.3 有源对消隐身技术 | 第22页 |
| 1.2.1.4 干扰欺骗技术 | 第22-23页 |
| 1.2.2 相位调制隐身技术 | 第23-27页 |
| 1.2.2.1 无源相位调制隐身技术 | 第23-25页 |
| 1.2.2.2 有源相位调制隐身技术 | 第25-27页 |
| 1.3 本文内容及安排 | 第27-29页 |
| 第二章 相位调制隐身方法研究 | 第29-48页 |
| 2.1 空间场叠加原理 | 第29-37页 |
| 2.1.1 线阵形式 | 第29-34页 |
| 2.1.2 面阵形式 | 第34-37页 |
| 2.2 时域调制隐身原理 | 第37-47页 |
| 2.2.1 周期相位调制方法 | 第37-43页 |
| 2.2.2 随机相位调制方法 | 第43-46页 |
| 2.2.3 调制方法对比 | 第46-47页 |
| 2.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 相位调制表面单元电磁特性 | 第48-57页 |
| 3.1 反射阵单元的相位特性 | 第48-49页 |
| 3.2 相位调制单元分类 | 第49-54页 |
| 3.2.1 尺寸变化单元相位分析 | 第49-51页 |
| 3.2.2 连接相位延迟线单元相位分析 | 第51-52页 |
| 3.2.3 单元旋转角度相位分析 | 第52-53页 |
| 3.2.4 孔径耦合单元相位分析 | 第53-54页 |
| 3.3 相位调制表面单元分析仿真方法 | 第54-56页 |
| 3.3.1 Floquet空间谐波分析方法 | 第54-55页 |
| 3.3.2 H-wall波导模拟器仿真方法 | 第55-56页 |
| 3.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 无源相位调制表面PPMS研究 | 第57-75页 |
| 4.1 单元分析设计 | 第57-58页 |
| 4.2 阵列设计方法研究 | 第58-65页 |
| 4.2.1 棋盘结构仿真 | 第59-60页 |
| 4.2.2 随机分布结构仿真 | 第60-65页 |
| 4.2.2.1 单层相位随机分布阵列设计 | 第60-63页 |
| 4.2.2.2 阵元数量对RCS的影响 | 第63-64页 |
| 4.2.2.3 相位随机分布范围对RCS的影响 | 第64-65页 |
| 4.3 多层设计研究 | 第65-69页 |
| 4.4 实验测量 | 第69-72页 |
| 4.5 相位调制表面共形设计研究分析 | 第72-73页 |
| 4.6 本章小结 | 第73-75页 |
| 第五章 有源相位调制表面APMS研究 | 第75-109页 |
| 5.1 APMS设计 | 第75-91页 |
| 5.1.1 基本单元设计 | 第75-80页 |
| 5.1.1.1 对贴片边长P_x,p_y进行扫描 | 第77-78页 |
| 5.1.1.2 对缝隙长度slot_x进行扫描 | 第78-79页 |
| 5.1.1.3 对匹配枝节长st_l、宽st_w进行扫描 | 第79-80页 |
| 5.1.2 有源控制反射相位方法分析 | 第80-87页 |
| 5.1.2.1 极管等效分析 | 第80-83页 |
| 5.1.2.2 终端效应影响 | 第83-84页 |
| 5.1.2.3 等效电路分析 | 第84-87页 |
| 5.1.3 单元结构电磁仿真分析 | 第87-89页 |
| 5.1.4 馈电网络设计 | 第89-90页 |
| 5.1.5 阵列设计 | 第90-91页 |
| 5.2 自适应调制模块设计 | 第91-99页 |
| 5.2.1 调制码产生模块设计 | 第91-92页 |
| 5.2.2 自适应调制判决组件 | 第92-97页 |
| 5.2.2.1 单比特测频单元算法设计 | 第93-94页 |
| 5.2.2.2 单比特测频单元系统设计 | 第94-96页 |
| 5.2.2.3 单比特测频单元宽带信号测频效果仿真 | 第96-97页 |
| 5.2.3 自适应调制模式宽带信号抑制效果仿真 | 第97-99页 |
| 5.3 实验结果 | 第99-108页 |
| 5.3.1 单元测试 | 第99-105页 |
| 5.3.1.1 单元性能测试结果 | 第99-103页 |
| 5.3.1.2 单元Ⅰ型改变背板间隔d测试结果 | 第103-104页 |
| 5.3.1.3 单元Ⅰ型改变正向电流测试结果 | 第104-105页 |
| 5.3.2 阵列测试 | 第105-108页 |
| 5.4 本章小结 | 第108-109页 |
| 第六章 结束语 | 第109-112页 |
| 6.1 本文主要研究成果 | 第109-110页 |
| 6.2 本文创新点总结 | 第110页 |
| 6.3 后续工作展望 | 第110-112页 |
| 致谢 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-123页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第123-124页 |
| 攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第124页 |