| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-19页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 柔性电子及介电弹性体 | 第9-13页 |
| 1.2.1 柔性电子技术简介 | 第9-12页 |
| 1.2.2 介电弹性体简介 | 第12-13页 |
| 1.3 柔性电子器件及其力学行为的发展概况 | 第13-17页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第13-17页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第17页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章大变形超弹性柔性电子系统屈曲/后屈曲行为理论研究分析 | 第19-39页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 系统模型 | 第19-20页 |
| 2.3 薄膜弯曲应变能与薄膜拉伸应变能求解 | 第20-23页 |
| 2.3.1 薄膜弯曲应变能 | 第20页 |
| 2.3.2 薄膜拉伸应变能 | 第20-22页 |
| 2.3.3 大变形条件下薄膜弯曲应变能与薄膜拉伸应变能求解 | 第22-23页 |
| 2.4 基于超弹性模型基底应变能求解 | 第23-29页 |
| 2.4.1 介电弹性体的本构模型 | 第23-24页 |
| 2.4.2 材料常数的测定 | 第24-27页 |
| 2.4.3 neo-Hookean模型的求解 | 第27-29页 |
| 2.5 屈曲参数的求解 | 第29-33页 |
| 2.6 模型的后屈曲分析 | 第33-37页 |
| 2.7 本章小结 | 第37-39页 |
| 第3章 大变形超弹性柔性电子的屈曲/后屈曲仿真计算 | 第39-54页 |
| 3.1 引言 | 第39页 |
| 3.2 有限元模型的建立及计算 | 第39-42页 |
| 3.2.1 预拉伸模型的建立及网格划分 | 第39-40页 |
| 3.2.2 预应变在两个job之间的传递 | 第40-41页 |
| 3.2.3 薄膜的引入及预应变的释放 | 第41-42页 |
| 3.3 计算结果及讨论分析 | 第42-44页 |
| 3.4 基底预应变对屈曲的影响 | 第44-47页 |
| 3.5 薄膜厚度对屈曲的影响 | 第47-50页 |
| 3.6 后屈曲ABAQUS仿真分析 | 第50-53页 |
| 3.6.1 后屈曲仿真分析方法 | 第50页 |
| 3.6.2 后屈曲结论分析 | 第50-53页 |
| 3.7 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 大变形超弹性柔性电子的屈曲/后屈曲实验分析 | 第54-65页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 实验仪器与实验方法 | 第54-58页 |
| 4.2.1 实验仪器 | 第54-56页 |
| 4.2.2 实验方法 | 第56-58页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第58-64页 |
| 4.3.1 测量结果 | 第58-59页 |
| 4.3.2 测量结果的分析 | 第59-61页 |
| 4.3.3 后屈曲实验分析 | 第61-63页 |
| 4.3.4 结果分析 | 第63-64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
