| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-25页 |
| 1.1 课题背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 大芯径能量光纤研究进展 | 第10-16页 |
| 1.2.1 大芯径能量光纤稳定性国外研究进展 | 第11-14页 |
| 1.2.2 大芯径能量光纤稳定性国内研究进展 | 第14-16页 |
| 1.3 大芯径能量光纤概述 | 第16-23页 |
| 1.3.1 大芯径能量光纤分类 | 第16-17页 |
| 1.3.2 大芯径能量光纤的生产工艺 | 第17-21页 |
| 1.3.3 大芯径能量光纤损耗产生的原因 | 第21-23页 |
| 1.4 大芯径能量光纤应用场合 | 第23-24页 |
| 1.5 文章研究的内容 | 第24-25页 |
| 第2章 大芯径能量光纤制备及表征方法 | 第25-30页 |
| 2.1 大芯径能量光纤工作机理以及制备技术 | 第25-27页 |
| 2.2 表征手段以及设备 | 第27-30页 |
| 2.2.1 扫描电子显微镜测试 | 第27页 |
| 2.2.2 热重分析（TGA） | 第27-28页 |
| 2.2.3 电子顺磁共振（EPR） | 第28-29页 |
| 2.2.4 X射线光电子能谱仪（XPS） | 第29页 |
| 2.2.5 AvaSpec-2048XL型光纤光谱仪 | 第29-30页 |
| 第3章 大芯径能量光纤成分以及结构分析 | 第30-43页 |
| 3.1 自制掺氟光纤预制棒成分分析 | 第30-31页 |
| 3.2 大芯径能量光纤成分分析 | 第31-40页 |
| 3.2.1 五种不同大芯径能量光纤表面及断面形貌分析 | 第32-34页 |
| 3.2.2 光纤样品的表面EDS能谱分析 | 第34-36页 |
| 3.2.3 五种不同大芯径能量光纤EPR电子顺磁共振分析 | 第36-37页 |
| 3.2.4 五种不同的大芯径能量光纤截面XPS能谱分析 | 第37-39页 |
| 3.2.5 三种光纤生产工艺对传输损耗性能的影响 | 第39-40页 |
| 3.3 氟掺杂对大芯径能量光纤传能性能的影响 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 大芯径能量光纤稳定性能研究 | 第43-56页 |
| 4.1 大芯径能量光纤高低温实验装置以及材料参数 | 第43-44页 |
| 4.2 高低温实验温度设置与数据采集 | 第44-45页 |
| 4.3 大芯径能量光纤高低温实验结果与讨论 | 第45-53页 |
| 4.3.1 大芯径能量光纤第一常用窗口 850nm波段传输损耗分析 | 第46-51页 |
| 4.3.2 大芯径光纤室温退火效应 | 第51-53页 |
| 4.4 大芯径能量光纤电子辐照模拟 | 第53-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-63页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及申请专利 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
