| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 背景情况 | 第9-11页 |
| 1.2 国内、外对绝缘子污秽闪络特性的研究现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 污闪机理及影响因素研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 绝缘子污秽度评估方法的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 污秽度对闪络电压的影响的研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.4 污秽成分影响闪络电压的研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.5 特殊污秽的研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 本文的研究内容和创新点 | 第17-18页 |
| 第二章 污秽成分分析方法研究 | 第18-26页 |
| 2.1 离子色谱法 | 第18-20页 |
| 2.1.1 测试原理 | 第18页 |
| 2.1.2 适用范围 | 第18-19页 |
| 2.1.3 测试方法 | 第19-20页 |
| 2.2 X-射线衍射分析 | 第20-21页 |
| 2.2.1 测试原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 适用范围 | 第21页 |
| 2.2.3 测试方法 | 第21页 |
| 2.3 X射线荧光光谱法 | 第21-23页 |
| 2.3.1 测试原理 | 第22页 |
| 2.3.2 适用范围 | 第22页 |
| 2.3.3 测试方法 | 第22-23页 |
| 2.4 气相色谱-质谱法 | 第23-24页 |
| 2.4.1 测试原理 | 第23页 |
| 2.4.2 适用范围 | 第23页 |
| 2.4.3 测试方法 | 第23-24页 |
| 2.5 污秽成分分析流程 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于单片绝缘子在不同湿度下的放电及污闪特性研究 | 第26-37页 |
| 3.1 外绝缘的特殊放电现象 | 第26-27页 |
| 3.2 污秽及土壤成分分析 | 第27-30页 |
| 3.2.1 ESDD和NSDD测量 | 第27页 |
| 3.2.2 港城站外绝缘表面污秽及土壤取样分析 | 第27-30页 |
| 3.3 含糖污秽和磷酸铝染污绝缘子放电及污闪试验研究 | 第30-35页 |
| 3.3.1 试验环境 | 第30-31页 |
| 3.3.2 试验步骤 | 第31-32页 |
| 3.3.3 试验结果及分析 | 第32-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 基于平板模型在不同湿度下的污闪特性研究 | 第37-52页 |
| 4.1 试验准备 | 第37-38页 |
| 4.1.1 试验设备及平台 | 第37-38页 |
| 4.1.2 污秽类型及污秽配置方式 | 第38页 |
| 4.2 试验步骤 | 第38-39页 |
| 4.2.1 玻璃板染污 | 第38-39页 |
| 4.2.2 玻璃板污秽受潮 | 第39页 |
| 4.2.3 绝缘电阻测量和污闪试验 | 第39页 |
| 4.3 玻璃板表面污秽积聚形貌 | 第39-40页 |
| 4.4 试验结果及分析 | 第40-51页 |
| 4.4.1 绝缘电阻和污闪电压结果及分析 | 第40-44页 |
| 4.4.2 基于高速摄影仪的电弧特性分析 | 第44-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 结论与建议 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附件 | 第60页 |