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基于有限元法的二维电阻抗成像算法研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-13页
    1.1 电阻抗技术背景、发展历史及研究现状第8-9页
        1.1.1 背景简介第8页
        1.1.2 发展历史及研究现状第8-9页
    1.2 本课题的研究意义以及应用前景第9-11页
        1.2.1 研究意义第9-10页
        1.2.2 应用前景第10-11页
    1.3 技术的难点第11页
    1.4 全文内容与布局第11-13页
第二章 电阻抗成像技术的理论基础第13-23页
    2.1 电阻抗成像的生物医学基础第13-15页
        2.1.1 生物组织的电学特性第13-14页
        2.1.2 正常与病变组织的电阻率对比第14-15页
    2.2 电阻抗成像系统第15-18页
        2.2.1 硬件系统第15-16页
        2.2.2 硬件系统的分类第16-17页
        2.2.3 测量技术第17-18页
    2.3 电阻抗成像的基本原理第18-22页
        2.3.1 基本原理第18-20页
        2.3.2 场域的数学描述第20-22页
    2.4 本章小结第22-23页
第三章 有限元基本理论与建模第23-33页
    3.1 电阻抗成像正问题第23页
    3.2 有限元法第23-29页
        3.2.1 Laplace方程等价变分问题第24-25页
        3.2.2 单元分析第25-27页
        3.2.3 场域的剖分第27-29页
    3.3 物理模型及正问题求解第29-32页
        3.3.1 物理模型第29-30页
        3.3.2 正问题求解第30-32页
    3.4 本章小结第32-33页
第四章 修正的牛顿-拉夫逊算法第33-46页
    4.1 EIT逆问题第33-34页
    4.2 动态成像和静态成像第34-35页
    4.3 修正的牛顿-拉夫逊算法第35-40页
        4.3.1 Newton迭代算法第35-36页
        4.3.2 Newton-Raphson算法第36-38页
        4.3.3 正则化技术第38-40页
    4.4 仿真实验与结果分析第40-45页
        4.4.1 雅克比矩阵第40页
        4.4.2 仿真实验和结果分析第40-45页
    4.5 本章小结第45-46页
第五章 基于SVR的电参数成像算法第46-64页
    5.1 统计学习理论第46-50页
        5.1.1 机器学习第46-47页
        5.1.2 经验风险最小化原则第47-48页
        5.1.3 VC维第48-49页
        5.1.4 结构风险最小化原则第49-50页
    5.2 SVM的基本理论第50-57页
        5.2.1 支持向量机回归第51-54页
        5.2.2 核函数第54-56页
        5.2.3 参数选择方法第56-57页
    5.3 基于遗传算法的参数优化第57-59页
        5.3.1 遗传算法概述第57-59页
        5.3.2 参数优化第59页
    5.4 仿真实验与结果分析第59-63页
        5.4.1 实验设计第59-60页
        5.4.2 仿真分析第60-63页
    5.5 本章小结第63-64页
第六章 总结与展望第64-66页
    6.1 总结全文第64页
    6.2 下一步的工作第64-66页
参考文献第66-69页
致谢第69页

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