摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
1.1 选题背景及其意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究动态 | 第12-14页 |
1.3 课题研究内容 | 第14页 |
1.4 研究过程中的主要工作 | 第14-15页 |
第二章 故障判定的原理与算法 | 第15-35页 |
2.1 常见故障 | 第15页 |
2.2 对称短路及保护原理 | 第15-17页 |
2.2.1 原相敏保护法及优化方案 | 第15-17页 |
2.2.2 改进后的相敏保护法判定故障设计 | 第17页 |
2.3 不对称故障及保护方案设计 | 第17-22页 |
2.3.1 不对称状态的分析 | 第18-20页 |
2.3.2 不对称故障的保护方案 | 第20-21页 |
2.3.3 接地故障及保护方案 | 第21-22页 |
2.4 大电流引起的过载故障及保护方案设计 | 第22-27页 |
2.4.1 保护装置的延时动作设计 | 第23-24页 |
2.4.2 电机的过载保护设计 | 第24-27页 |
2.5 漏电故障及保护方案设计 | 第27-30页 |
2.6 过电压保护与欠电压保护设计 | 第30-32页 |
2.6.1 过压故障及保护方案 | 第30-31页 |
2.6.2 欠压故障及保护方案 | 第31-32页 |
2.7 保护装置滤波设计 | 第32-33页 |
2.8 对称分量法中三种分量的获得 | 第33-35页 |
2.9 本章小结 | 第35页 |
第三章 保护装置芯片及外围硬件介绍 | 第35-47页 |
3.1 控制芯片的选取 | 第36-37页 |
3.2 保护器外围硬件的设计 | 第37-46页 |
3.2.1 通讯端口 | 第37-40页 |
3.2.1.1 通讯端口不兼容的解决方案 | 第37-40页 |
3.2.2 模拟信号采集设计原理 | 第40-41页 |
3.2.3 功率因数角测量原理 | 第41-43页 |
3.2.4 开关量的隔离与抗干扰 | 第43页 |
3.2.5 保护器屏幕介绍 | 第43-44页 |
3.2.6 保护器存储容量扩展方案 | 第44页 |
3.2.7 保护器电源稳压及抗干扰装置设计 | 第44-46页 |
3.3 本章小结 | 第46-47页 |
第四章 保护系统软件设计 | 第47-68页 |
4.1 移植μC/OS-Ⅱ操作系统 | 第47-50页 |
4.1.1 μC/OS-Ⅱ操作系统的选取 | 第47页 |
4.1.2 μC/OS-Ⅱ操作系统移植方案设计 | 第47-50页 |
4.2 应用程序功能介绍 | 第50-52页 |
4.2.1 μC/OS-Ⅱ系统进行保护的原理 | 第50-51页 |
4.2.2 任务排序 | 第51-52页 |
4.3 信号采样原理 | 第52页 |
4.4 故障判定及保护执行 | 第52页 |
4.5 人机会话系统软件设计 | 第52-55页 |
4.5.1 Write_Icd(Comm,0×01)函数 | 第52-53页 |
4.5.2 Lcd_Disp_pan(uint32 ad,char~*chn,uint32 i)函数 | 第53-54页 |
4.5.3 显示系统各功能键设定 | 第54页 |
4.5.4 保护器显示内容介绍 | 第54-55页 |
4.6 Modbus现场总线通讯系统设计 | 第55-62页 |
4.6.1 现场总线技术特点 | 第55页 |
4.6.2 Modbus通讯协议 | 第55-59页 |
4.6.3 Modbus程序设计 | 第59-62页 |
4.7 监控机显示设计 | 第62-63页 |
4.7.1 通讯管理 | 第62-63页 |
4.7.2 数据检测与分析 | 第63页 |
4.7.3 相关参数设定 | 第63页 |
4.7.4 历史记录查找 | 第63页 |
4.8 软件消除干扰措施 | 第63-64页 |
4.9 保护装置可靠性试验 | 第64-68页 |
4.9.1 试验对称性故障电流引起的故障 | 第64-65页 |
4.9.2 试验不对称性故障电流引起的故障 | 第65-66页 |
4.9.3 试验欠压过压保护 | 第66页 |
4.9.4 试验接地保护 | 第66-67页 |
4.9.5 试验过流保护 | 第67-68页 |
4.10 本章小结 | 第68页 |
结论与展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71页 |