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10kV开关柜局部放电检测技术及测试平台的研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-18页
    1.1 研究意义及背景第9-12页
        1.1.1 金属封闭式开关设备第9-10页
        1.1.2 开关柜常见的绝缘故障第10-12页
    1.2 国内外研究现状第12-17页
        1.2.1 非电量检测法第13-14页
        1.2.2 电量检测法第14-17页
    1.3 论文的主要内容第17-18页
第2章 TEV检测法的原理及理论第18-24页
    2.1 局部放电理论基础第18-19页
    2.2 TEV检测法的理论基础第19-21页
    2.3 TEV局部放电检测原理第21-23页
    2.4 本章小结第23-24页
第3章 TEV定位技术研究第24-30页
    3.1 TEV定位原理第24-26页
    3.2 定位的一些问题第26-27页
    3.3 定位技术的研究第27-29页
    3.4 对缺陷源的定位和分析第29页
    3.5 本章小结第29-30页
第4章 基于TEV的开关柜局部放电检测平台第30-52页
    4.1 模拟绝缘内部故障的类型第30-34页
        4.1.1 沿面放电模型第30-31页
        4.1.2 电晕放电模型第31-33页
        4.1.3 悬浮放电模型第33-34页
    4.2 开关柜局部放电特征研究第34-43页
        4.2.1 开关柜局部放电测试平台第34-35页
        4.2.2 局部放电带电检测仪器第35-38页
        4.2.3 局部放电的判断依据第38页
        4.2.4 地电波检测的数据处理方法第38-39页
        4.2.5 现场检测的一些问题第39-41页
        4.2.6 开关柜暂态地电压的现场检测第41-43页
    4.3 实验结果与分析第43-48页
        4.3.1 开关柜沿面放电第43-44页
        4.3.2 开关柜电晕放电第44页
        4.3.3 开关柜悬浮放电第44-45页
        4.3.4 局部放电检测的数据处理及结论第45-48页
    4.4 TEV多通道在线监护系统第48-51页
        4.4.1 PDAN系统的设计方案第48页
        4.4.2 PDAN系统技术特点第48-49页
        4.4.3 PDAN系统监测原理第49-50页
        4.4.4 PDAN系统的意义第50-51页
    4.5 本章小结第51-52页
第5章 结论与展望第52-53页
    5.1 结论与展望第52-53页
参考文献第53-56页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第56-57页
致谢第57-58页
作者简介第58页

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