| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·有机薄膜晶体管的研究现状 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·有机薄膜晶体管的结构 | 第9-10页 |
| ·有机薄膜晶体管的研究进展 | 第10-11页 |
| ·有机薄膜晶体管在传感检测方面的应用研究进展 | 第11-12页 |
| ·本课题的研究内容和意义 | 第12-13页 |
| 第二章 有机薄膜晶体管的制备与表征 | 第13-23页 |
| ·有机薄膜晶体管制备方法概述 | 第13-15页 |
| ·镀膜的原理 | 第14页 |
| ·器件制备 | 第14-15页 |
| ·制备条件对有机薄膜晶体管的影响 | 第15-16页 |
| ·有机薄膜晶体管性能表征概述 | 第16-21页 |
| ·有机薄膜晶体管表征方法介绍 | 第17页 |
| ·有机薄膜晶体管表征数据分析 | 第17-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 基于新型活性层材料的有机薄膜晶体管研究 | 第23-34页 |
| ·使用新型有机半导体材料的意义 | 第23-24页 |
| ·TII(BFu)_2和TII(Na)_2做为活性层的有机薄膜晶体管制备与表征 | 第24-26页 |
| ·器件制备 | 第24-25页 |
| ·器件表征 | 第25-26页 |
| ·TII(BFu)_2和TII(Na)_2做为活性层的有机薄膜晶体管表征分析 | 第26-32页 |
| ·活性层材料的热稳定性 | 第26-27页 |
| ·活性层材料的能级 | 第27页 |
| ·器件的电学性能 | 第27-30页 |
| ·活性层薄膜的表面形貌 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第四章 基于活性层掺杂的有机薄膜晶体管研究 | 第34-46页 |
| ·活性层掺杂的意义 | 第34-35页 |
| ·基于TII(BFu)_2掺杂P3HT的有机薄膜晶体管制备与表征 | 第35-36页 |
| ·器件制备 | 第35-36页 |
| ·器件表征 | 第36页 |
| ·基于TII(BFu)_2掺杂P3HT的有机薄膜晶体管的表征分析 | 第36-45页 |
| ·器件电学性能对比分析 | 第36-41页 |
| ·活性层晶相结构对比分析 | 第41-43页 |
| ·活性层表面形貌对比分析 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 器件的介电修饰层和活性层选择及其离子检测应用 | 第46-57页 |
| ·介电修饰层和活性层的选择对器件的稳定性影响 | 第47-52页 |
| ·器件电学性能对比分析 | 第47-51页 |
| ·介电修饰层表面形貌对比分析 | 第51-52页 |
| ·基于介电修饰层OTS和活性层TII(BFu)_2的有机薄膜晶体管离子检测器的应用 | 第52-54页 |
| ·离子检测器的结构 | 第52-53页 |
| ·离子检测器的制备及检测方法 | 第53-54页 |
| ·离子检测数据分析 | 第54-56页 |
| ·离子种类检测分析 | 第55页 |
| ·离子浓度检测分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·研究总结 | 第57-58页 |
| ·未来展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第63-64页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第64-65页 |
| 附录3 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
