视觉检测技术在中压真空断路器检测线上的研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| abstract | 第6-13页 |
| 第一章 引言 | 第13-19页 |
| ·课题背景 | 第13-14页 |
| ·课题来源 | 第13页 |
| ·课题意义 | 第13-14页 |
| ·视觉检测技术概述 | 第14-15页 |
| ·视觉检测技术国内外发展现状及前景 | 第15-17页 |
| ·本文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 图像预处理技术 | 第19-31页 |
| ·图像滤波 | 第19-22页 |
| ·中值滤波 | 第19-20页 |
| ·均值滤波 | 第20-21页 |
| ·高斯滤波 | 第21-22页 |
| ·数学形态学处理 | 第22-31页 |
| ·概述 | 第22页 |
| ·基本形态学运算 | 第22-25页 |
| ·腐蚀 | 第22-23页 |
| ·膨胀 | 第23-24页 |
| ·开运算 | 第24-25页 |
| ·闭运算 | 第25页 |
| ·二值图像中的形态学应用 | 第25-31页 |
| ·孔洞填充 | 第26-27页 |
| ·边界提取 | 第27-28页 |
| ·连通分量提取 | 第28-29页 |
| ·凸壳 | 第29-31页 |
| 第三章 图像边缘检测和亚像素定位 | 第31-39页 |
| ·图像边缘检测概述 | 第31页 |
| ·图像边缘检测算子 | 第31-35页 |
| ·Roberts算子 | 第31-32页 |
| ·Sobel算子 | 第32页 |
| ·Prewitt算子 | 第32-33页 |
| ·Canny算子 | 第33-34页 |
| ·高斯—拉普拉斯算子 | 第34-35页 |
| ·亚像素定位概述 | 第35-36页 |
| ·亚像素定位算法 | 第36-39页 |
| ·插值法 | 第36页 |
| ·拟合法 | 第36页 |
| ·矩方法 | 第36-39页 |
| ·灰度矩 | 第36-37页 |
| ·空间矩 | 第37-39页 |
| 第四章 视觉检测系统设计 | 第39-48页 |
| ·检测系统结构设计 | 第39页 |
| ·检测系统硬件组成 | 第39-43页 |
| ·光源 | 第39-41页 |
| ·相机 | 第41-42页 |
| ·图像采集卡 | 第42-43页 |
| ·检测系统检测流程介绍 | 第43-44页 |
| ·检测系统检测尺寸介绍 | 第44-48页 |
| 第五章 系统实现及性能分析 | 第48-66页 |
| ·开发工具介绍 | 第48页 |
| ·HALCON | 第48页 |
| ·VC++ | 第48页 |
| ·图像预处理 | 第48-58页 |
| ·读取图像 | 第48-49页 |
| ·阈值分割 | 第49-51页 |
| ·形态学运算 | 第51-58页 |
| ·两种测试点算法通用部分处理过程 | 第51-55页 |
| ·两种测试点算法不同部分处理过程 | 第55-58页 |
| ·图像亚像素边缘提取 | 第58-62页 |
| ·圆形测试点边缘提取过程 | 第58-59页 |
| ·线型测试点边缘提取过程 | 第59-62页 |
| ·性能分析 | 第62-66页 |
| ·系统界面功能介绍 | 第62-63页 |
| ·系统检测误差分析 | 第63-64页 |
| ·系统稳定性分析 | 第64-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·工作总结 | 第66页 |
| ·研究展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第72页 |
