摘要 | 第1-13页 |
Abstract | 第13-15页 |
第一章 绪论 | 第15-23页 |
·研究背景 | 第15-19页 |
·高性能计算机的发展趋势 | 第15-16页 |
·高性能计算面临的可靠性问题 | 第16-17页 |
·容错技术面临的挑战 | 第17-19页 |
·非易失内存技术迅速发展为容错技术提供了新机遇 | 第19页 |
·主要研究内容及贡献 | 第19-21页 |
·研究内容 | 第19-20页 |
·主要贡献 | 第20-21页 |
·文章结构 | 第21-23页 |
第二章 相关研究 | 第23-37页 |
·研究基础 | 第23-28页 |
·容错研究基础 | 第23-25页 |
·新兴的 NVRAM 技术 | 第25-28页 |
·本文对 NVRAM 技术的假设 | 第28页 |
·容错相关研究 | 第28-33页 |
·检查点技术 | 第29-32页 |
·基于算法的容错技术 | 第32-33页 |
·并行复算 | 第33页 |
·NVRAM 相关研究 | 第33-37页 |
·体系结构技术研究 | 第34页 |
·存储技术研究 | 第34-37页 |
第三章 基于 NVRAM 的容错算法研究 | 第37-57页 |
·容错算法的思想 | 第37-39页 |
·存储架构 | 第37-38页 |
·错误模型 | 第38页 |
·容错思想 | 第38-39页 |
·容错 Barnes-Hut 算法设计 | 第39-44页 |
·Barnes-hut 算法介绍 | 第39-40页 |
·容错 Barnes-Hut 算法 | 第40-44页 |
·恢复 | 第44页 |
·容错 K-means 算法 | 第44-48页 |
·K-means 算法介绍 | 第44-45页 |
·容错 Kmeans 算法 | 第45-47页 |
·恢复 | 第47-48页 |
·实验和评测 | 第48-55页 |
·实验设计 | 第48页 |
·FT-Barnes | 第48-51页 |
·FT-Kmeans | 第51-55页 |
·小结 | 第55-57页 |
第四章 基于 NVRAM 的容错进程模型研究 | 第57-77页 |
·NV-process 的思想 | 第57-58页 |
·NV-process 的容错特性 | 第57页 |
·NV-process 的容错思想 | 第57-58页 |
·NV-process 的设计 | 第58-60页 |
·设计概述 | 第58页 |
·进程解耦合 | 第58-59页 |
·一致的运行方式 | 第59-60页 |
·进程原地启动 | 第60页 |
·NV-process 的实现 | 第60-68页 |
·进程解耦合 | 第60-62页 |
·事务化执行 | 第62-67页 |
·进程恢复 | 第67-68页 |
·实验与评测 | 第68-76页 |
·实验设计 | 第68页 |
·NV-process 运行时开销 | 第68-70页 |
·NV-process 恢复性能 | 第70页 |
·NV-process 容错性能 | 第70-76页 |
·小结 | 第76-77页 |
第五章 基于 NVRAM 的细粒度增量式检查点技术研究 | 第77-97页 |
·增量式检查点冗余数据分析 | 第77-79页 |
·AG-ckpt 的设计和实现 | 第79-82页 |
·设计要点 | 第79-80页 |
·检查点操作和恢复操作 | 第80-82页 |
·最优检查点粒度分析 | 第82-90页 |
·检查点代价模型的建立 | 第83-84页 |
·应用访存模型的建立 | 第84-87页 |
·检查点代价模型分析 | 第87-90页 |
·性能评测 | 第90-96页 |
·实验设计 | 第91页 |
·理论预测 | 第91-92页 |
·实验评测 | 第92-96页 |
·小结 | 第96-97页 |
第六章 结论与展望 | 第97-101页 |
·工作总结 | 第97-98页 |
·研究展望 | 第98-101页 |
致谢 | 第101-103页 |
参考文献 | 第103-115页 |
攻读博士学位期间已发表和待发表的论文 | 第115-117页 |
攻读博士学位期间参与的科研项目 | 第117页 |