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基于非易失内存的高性能计算容错技术研究

摘要第1-13页
Abstract第13-15页
第一章 绪论第15-23页
   ·研究背景第15-19页
     ·高性能计算机的发展趋势第15-16页
     ·高性能计算面临的可靠性问题第16-17页
     ·容错技术面临的挑战第17-19页
     ·非易失内存技术迅速发展为容错技术提供了新机遇第19页
   ·主要研究内容及贡献第19-21页
     ·研究内容第19-20页
     ·主要贡献第20-21页
   ·文章结构第21-23页
第二章 相关研究第23-37页
   ·研究基础第23-28页
     ·容错研究基础第23-25页
     ·新兴的 NVRAM 技术第25-28页
     ·本文对 NVRAM 技术的假设第28页
   ·容错相关研究第28-33页
     ·检查点技术第29-32页
     ·基于算法的容错技术第32-33页
     ·并行复算第33页
   ·NVRAM 相关研究第33-37页
     ·体系结构技术研究第34页
     ·存储技术研究第34-37页
第三章 基于 NVRAM 的容错算法研究第37-57页
   ·容错算法的思想第37-39页
     ·存储架构第37-38页
     ·错误模型第38页
     ·容错思想第38-39页
   ·容错 Barnes-Hut 算法设计第39-44页
     ·Barnes-hut 算法介绍第39-40页
     ·容错 Barnes-Hut 算法第40-44页
     ·恢复第44页
   ·容错 K-means 算法第44-48页
     ·K-means 算法介绍第44-45页
     ·容错 Kmeans 算法第45-47页
     ·恢复第47-48页
   ·实验和评测第48-55页
     ·实验设计第48页
     ·FT-Barnes第48-51页
     ·FT-Kmeans第51-55页
   ·小结第55-57页
第四章 基于 NVRAM 的容错进程模型研究第57-77页
   ·NV-process 的思想第57-58页
     ·NV-process 的容错特性第57页
     ·NV-process 的容错思想第57-58页
   ·NV-process 的设计第58-60页
     ·设计概述第58页
     ·进程解耦合第58-59页
     ·一致的运行方式第59-60页
     ·进程原地启动第60页
   ·NV-process 的实现第60-68页
     ·进程解耦合第60-62页
     ·事务化执行第62-67页
     ·进程恢复第67-68页
   ·实验与评测第68-76页
     ·实验设计第68页
     ·NV-process 运行时开销第68-70页
     ·NV-process 恢复性能第70页
     ·NV-process 容错性能第70-76页
   ·小结第76-77页
第五章 基于 NVRAM 的细粒度增量式检查点技术研究第77-97页
   ·增量式检查点冗余数据分析第77-79页
   ·AG-ckpt 的设计和实现第79-82页
     ·设计要点第79-80页
     ·检查点操作和恢复操作第80-82页
   ·最优检查点粒度分析第82-90页
     ·检查点代价模型的建立第83-84页
     ·应用访存模型的建立第84-87页
     ·检查点代价模型分析第87-90页
   ·性能评测第90-96页
     ·实验设计第91页
     ·理论预测第91-92页
     ·实验评测第92-96页
   ·小结第96-97页
第六章 结论与展望第97-101页
   ·工作总结第97-98页
   ·研究展望第98-101页
致谢第101-103页
参考文献第103-115页
攻读博士学位期间已发表和待发表的论文第115-117页
攻读博士学位期间参与的科研项目第117页

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