模拟电路故障诊断中的测试点集优化技术
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·研究背景与意义 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-11页 |
·本文的主要工作 | 第11-13页 |
·基于故障整数编码表的策略 | 第11页 |
·基于故障整数编码表的标准 | 第11-12页 |
·基于KNN算法的模拟电路测点优化 | 第12-13页 |
·论文章节安排 | 第13页 |
2 相关理论与技术介绍 | 第13-23页 |
·敏感度因子 | 第13-15页 |
·信息增益 | 第15-16页 |
·KNN算法及改进 | 第16-19页 |
·传统的KNN算法 | 第16-17页 |
·分治法 | 第17-18页 |
·算法改进 | 第18-19页 |
·小波与小波包变换 | 第19-20页 |
·离散小波—Haar小波 | 第19-20页 |
·小波系数能量值提取 | 第20页 |
·归一化处理 | 第20页 |
·克隆选择算法 | 第20-23页 |
3 模拟电路故障诊断及总体流程 | 第23-28页 |
·模拟电路故障诊断的总体框架 | 第23-27页 |
·测试点集优化过程 | 第27-28页 |
4 系统设计与实现 | 第28-35页 |
·系统平台的搭建 | 第28-29页 |
·测点优化系统实现 | 第29-30页 |
·实例说明 | 第30-35页 |
5 实验分析 | 第35-43页 |
·实验电路 | 第35-37页 |
·整数编码表的方法 | 第37-38页 |
·基于敏感度因子的方法 | 第38-40页 |
·基于信息增益的方法 | 第40-41页 |
·几种方法的对比(基于人工免疫算法的对比) | 第41-43页 |
6 结论与展望 | 第43-45页 |
·主要结论 | 第43-44页 |
·后续工作的展望 | 第44-45页 |
参考文献 | 第45-47页 |
申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第47-48页 |
致谢 | 第48页 |