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模拟电路故障诊断中的测试点集优化技术

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
1 绪论第8-13页
   ·研究背景与意义第8-9页
   ·国内外研究现状第9-11页
   ·本文的主要工作第11-13页
     ·基于故障整数编码表的策略第11页
     ·基于故障整数编码表的标准第11-12页
     ·基于KNN算法的模拟电路测点优化第12-13页
   ·论文章节安排第13页
2 相关理论与技术介绍第13-23页
   ·敏感度因子第13-15页
   ·信息增益第15-16页
   ·KNN算法及改进第16-19页
     ·传统的KNN算法第16-17页
     ·分治法第17-18页
     ·算法改进第18-19页
   ·小波与小波包变换第19-20页
     ·离散小波—Haar小波第19-20页
     ·小波系数能量值提取第20页
     ·归一化处理第20页
   ·克隆选择算法第20-23页
3 模拟电路故障诊断及总体流程第23-28页
   ·模拟电路故障诊断的总体框架第23-27页
   ·测试点集优化过程第27-28页
4 系统设计与实现第28-35页
   ·系统平台的搭建第28-29页
   ·测点优化系统实现第29-30页
   ·实例说明第30-35页
5 实验分析第35-43页
   ·实验电路第35-37页
   ·整数编码表的方法第37-38页
   ·基于敏感度因子的方法第38-40页
   ·基于信息增益的方法第40-41页
   ·几种方法的对比(基于人工免疫算法的对比)第41-43页
6 结论与展望第43-45页
   ·主要结论第43-44页
   ·后续工作的展望第44-45页
参考文献第45-47页
申请学位期间的研究成果及发表的学术论文第47-48页
致谢第48页

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