嵌入式闪存测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-13页 |
| ·论文研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究的背景和现状 | 第9-11页 |
| ·课题来源与论文结构 | 第11-13页 |
| 第二章 嵌入式闪存功能结构与测试方法概述 | 第13-25页 |
| ·嵌入式闪存的功能结构 | 第13-15页 |
| ·嵌入式闪存测试简介 | 第15-19页 |
| ·嵌入式闪存测试的基本概念 | 第15-17页 |
| ·嵌入式闪存测试框架 | 第17-19页 |
| ·嵌入式闪存的测试原理 | 第19-22页 |
| ·测试平台与环境要求 | 第20-21页 |
| ·测试流程及关键步骤 | 第21-22页 |
| ·嵌入式闪存常见的测试问题 | 第22-24页 |
| ·本章小节 | 第24-25页 |
| 第三章 嵌入式闪存的电路设计与测试 | 第25-36页 |
| ·BIST电路设计及测试方案 | 第25-31页 |
| ·并行测试接口方案 | 第25-26页 |
| ·半并行测试接口方案 | 第26-27页 |
| ·串口测试接口方案 | 第27-28页 |
| ·测试方案的研究及选用 | 第28-31页 |
| ·电路关键参数的设计规格与评估 | 第31-32页 |
| ·电路缺陷的检查及弥补方法 | 第32-34页 |
| ·程序测试向量的设计过程 | 第34-35页 |
| ·本章小节 | 第35-36页 |
| 第四章 嵌入式闪存的存储单元工艺与测试 | 第36-47页 |
| ·存储单元的工艺结构 | 第36页 |
| ·存储单元的测试方法研究 | 第36-37页 |
| ·工艺关键参数的设计规格与评估 | 第37-38页 |
| ·工艺缺陷的检查及弥补方法 | 第38-44页 |
| ·Idp的调节对于写操作的改善作用 | 第38-41页 |
| ·Vwl-pgm对于写操作的影响作用 | 第41-44页 |
| ·程序测试向量的设计过程 | 第44-46页 |
| ·本章小节 | 第46-47页 |
| 第五章 嵌入式闪存的量产测试 | 第47-61页 |
| ·测试目标的制定 | 第47-48页 |
| ·量产流程的制定及发布 | 第48-49页 |
| ·缩减测试时间 | 第49-54页 |
| ·提升测试频率 | 第49页 |
| ·测试模式替代用户模式 | 第49-52页 |
| ·同测数能力的扩展 | 第52-54页 |
| ·优化测试方法 | 第54-56页 |
| ·测试效率及覆盖率的提高 | 第54页 |
| ·测试稳定性的提高 | 第54-56页 |
| ·成品率的监控与管理 | 第56-60页 |
| ·本章小节 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| ·总结 | 第61-62页 |
| ·展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
