ICF实验中子探测器研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
目录 | 第9-11页 |
第一章 引言 | 第11-21页 |
·ICF实验简介 | 第11页 |
·ICF 实验的基本概念和物理过程 | 第11-13页 |
·惯性约束聚变实验诊断 | 第13-14页 |
·ICF实验诊断的对象和目的 | 第13页 |
·ICF实验物理诊断包含的内容 | 第13-14页 |
·ICF实验中子能谱 | 第14-16页 |
·国内外 ICF中子飞行时间探测器简介 | 第16-21页 |
第二章 神光-III原型大阵列中子探测器系统 | 第21-28页 |
·大阵列中子探测器系统的设计目标 | 第21-24页 |
·中子测量方法 | 第24-25页 |
·大阵列中子探测器性能分析 | 第25-28页 |
·引起测量误差的主要原因 | 第25-26页 |
·大阵列中子探测器系统框图 | 第26-28页 |
第三章 16通道探测器原型系统设计 | 第28-33页 |
·探测器原型系统基本性能 | 第28-30页 |
·闪烁探测器—光电倍增管性能 | 第28页 |
·电子学输入信号特征 | 第28-29页 |
·ICF实验中子到达探测器的时间测量 | 第29-30页 |
·输入信号的幅度测量 | 第30页 |
·电子学原型系统硬件设计 | 第30-33页 |
第四章 关键技术难题的解决 | 第33-43页 |
·探测器本底的降低 | 第33-34页 |
·工程化方面的考虑—多通道的测试问题 | 第34-35页 |
·通道一致性 | 第35-36页 |
·幅度游动效应 | 第36-38页 |
·系统的集成 | 第38-41页 |
·电源问题 | 第41-43页 |
第五章 关键组件设计 | 第43-65页 |
·探测器 | 第43页 |
·电子学系统设计的几个原则 | 第43-48页 |
·多通道设计 | 第44页 |
·减少串扰的方法 | 第44-46页 |
·对 VME总线的访问 | 第46-48页 |
·放大定时甄别器 | 第48-55页 |
·成形放大器 | 第55-58页 |
·ADC | 第58-60页 |
·TDC | 第60-63页 |
·软件 | 第63-65页 |
第六章 系统性能测试 | 第65-84页 |
·测试内容 | 第65-66页 |
·测试方法及平台的搭建 | 第66-67页 |
·测试结果 | 第67-84页 |
·放大定时甄别器 | 第68-72页 |
·成形放大器与 ADC | 第72-73页 |
·TDC | 第73-74页 |
·电子学系统整体性能测试 | 第74-76页 |
·串扰测试 | 第76-77页 |
·探测器系统总体性能测试 | 第77-84页 |
第七章 总结与展望 | 第84-87页 |
·本论文工作总结 | 第84-85页 |
·今后工作的展望 | 第85-87页 |
参考文献 | 第87-90页 |
在学期间发表论文情况 | 第90-91页 |
致谢 | 第91页 |