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ICF实验中子探测器研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
目录第9-11页
第一章 引言第11-21页
   ·ICF实验简介第11页
   ·ICF 实验的基本概念和物理过程第11-13页
   ·惯性约束聚变实验诊断第13-14页
     ·ICF实验诊断的对象和目的第13页
     ·ICF实验物理诊断包含的内容第13-14页
   ·ICF实验中子能谱第14-16页
   ·国内外 ICF中子飞行时间探测器简介第16-21页
第二章 神光-III原型大阵列中子探测器系统第21-28页
   ·大阵列中子探测器系统的设计目标第21-24页
   ·中子测量方法第24-25页
   ·大阵列中子探测器性能分析第25-28页
     ·引起测量误差的主要原因第25-26页
     ·大阵列中子探测器系统框图第26-28页
第三章 16通道探测器原型系统设计第28-33页
   ·探测器原型系统基本性能第28-30页
     ·闪烁探测器—光电倍增管性能第28页
     ·电子学输入信号特征第28-29页
     ·ICF实验中子到达探测器的时间测量第29-30页
     ·输入信号的幅度测量第30页
   ·电子学原型系统硬件设计第30-33页
第四章 关键技术难题的解决第33-43页
   ·探测器本底的降低第33-34页
   ·工程化方面的考虑—多通道的测试问题第34-35页
   ·通道一致性第35-36页
   ·幅度游动效应第36-38页
   ·系统的集成第38-41页
   ·电源问题第41-43页
第五章 关键组件设计第43-65页
   ·探测器第43页
   ·电子学系统设计的几个原则第43-48页
     ·多通道设计第44页
     ·减少串扰的方法第44-46页
     ·对 VME总线的访问第46-48页
   ·放大定时甄别器第48-55页
   ·成形放大器第55-58页
   ·ADC第58-60页
   ·TDC第60-63页
   ·软件第63-65页
第六章 系统性能测试第65-84页
   ·测试内容第65-66页
   ·测试方法及平台的搭建第66-67页
   ·测试结果第67-84页
     ·放大定时甄别器第68-72页
     ·成形放大器与 ADC第72-73页
     ·TDC第73-74页
     ·电子学系统整体性能测试第74-76页
     ·串扰测试第76-77页
     ·探测器系统总体性能测试第77-84页
第七章 总结与展望第84-87页
   ·本论文工作总结第84-85页
   ·今后工作的展望第85-87页
参考文献第87-90页
在学期间发表论文情况第90-91页
致谢第91页

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