| 第一章 前言 | 第1-20页 |
| ·纳米技术概述 | 第7-14页 |
| ·纳米材料及其性质 | 第7-8页 |
| ·纳米技术及其应用 | 第8-10页 |
| ·纳米微粒的表征 | 第10-14页 |
| ·原子力显微镜(AFM)简介及其应用 | 第14-18页 |
| ·原子力显微镜简介 | 第14-16页 |
| ·原子力显微镜的应用 | 第16-18页 |
| ·本文研究的内容和目的 | 第18-20页 |
| 第二章 AFM原理和实验设备描述及操作 | 第20-30页 |
| ·AFM原理 | 第20-23页 |
| ·AFM的物理机理 | 第20-21页 |
| ·AFM的工作原理 | 第21-22页 |
| ·AFM的成像模式及图像产生机理 | 第22-23页 |
| ·设备描述及操作 | 第23-30页 |
| ·AFM硬件结构 | 第25-27页 |
| ·仪器操作与数据处理 | 第27-30页 |
| 第三章 使用AFM研究羟基磷灰石表面和粒径 | 第30-48页 |
| ·化学沉淀法制备的羟基磷灰石样品 | 第30-40页 |
| ·样品介绍和扫描样品制备 | 第30-32页 |
| ·AFM测试及结果分析 | 第32-40页 |
| ·HAP-Al_2O_3复合物(质量比为65:35)样品的表面形貌和粒径研究. | 第40-46页 |
| ·样品制备 | 第40-41页 |
| ·AFM测试及结果分析 | 第41-46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 AFM对SiO_2纳米晶及其它材料的表面形貌和粒径研究 | 第48-64页 |
| ·SiO_2纳米晶 | 第48-55页 |
| ·样品制备 | 第48-49页 |
| ·样品测试及结果分析 | 第49-55页 |
| ·AFM在其他材料表面研究中的应用 | 第55-63页 |
| ·氧化硅与碳纳米管复合物(质量比为65:35) | 第55-58页 |
| ·金刚石膜 | 第58-62页 |
| ·CD光盘 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 结论与展望 | 第64-67页 |
| ·结论 | 第64-65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 摘要 | 第71-74页 |
| Abstract | 第74-79页 |
| 致谢 | 第79页 |