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激光全息防伪标识参数测量方法研究

中文摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 绪论第7-15页
   ·激光全息防伪技术的简介及发展第7-11页
   ·国内外的发展现状第11-12页
   ·本课题研究的目的及意义第12-13页
   ·论文的主要工作及难点第13-14页
   ·本论文的创新点第14-15页
第二章 激光全息防伪参数测试原理第15-32页
   ·全息术原理及发展第15-20页
     ·全息发展第15-16页
     ·全息原理第16-19页
     ·全息的应用第19-20页
   ·彩虹全息原理第20-23页
     ·二步彩虹全息第20-22页
     ·一步彩虹全息第22-23页
   ·激光全息防伪的制作工艺第23-26页
   ·测量方法第26-27页
   ·测试方法实验第27-31页
   ·激光全息防伪标识参数测量仪的整体设计思想第31-32页
第三章 激光全息防伪参数测试仪硬件设计第32-48页
   ·光路部分设计第32-33页
   ·机械结构设计第33-39页
     ·外形设计第34-35页
     ·内部机械结构设计第35-39页
   ·电路部分设计第39-48页
     ·采集系统原理框图第39-40页
     ·光电池的零伏偏置电路第40-41页
     ·数据采集接口设计第41-46页
     ·电路设计中需要注意的问题第46-48页
第四章 激光全息防伪标识参数测量仪软件设计第48-61页
   ·固件代码的编写第48-52页
     ·设备初始化函数TD_Init()第50-51页
     ·用户命令函数DR_VendorCmnd()第51-52页
     ·EZ_USB FX2 的固件编写过程第52页
   ·接口驱动程序的开发第52-55页
     ·WDM驱动程序的特点第52-53页
     ·USB设备驱动程序的开发第53-55页
   ·用户应用程序的开发第55-61页
     ·应用程序与设备的通讯第55-57页
     ·用户操作界面第57-61页
第五章 激光全息防伪标识参数测试方法的研究第61-69页
   ·样品的测量及分析第62-64页
     ·样品的测量第62-64页
     ·样品测量的分析第64页
   ·狭缝分析第64-66页
     ·狭缝的演变第64-65页
     ·狭缝对特性参数的影响第65-66页
   ·衍射效率及信噪比的分析第66-69页
     ·衍射效率的分析第66-67页
     ·信噪比的分析第67-69页
第六章 总结与展望第69-71页
   ·总结第69-70页
   ·展望第70-71页
参考文献第71-74页
发表论文和科研情况说明第74-75页
附录第75-77页
 附录I 采集卡电路原理图第75-76页
 附录II 采集卡PCB版图第76-77页
致谢第77页

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