| 第一章 引言 | 第1-19页 |
| ·ICF的发展对强激光诱导损伤研究的需求 | 第8-10页 |
| ·高功率激光诱导损伤机理研究历史 | 第10-11页 |
| ·损伤测量方法研究概述 | 第11页 |
| ·激光损伤研究的复杂性 | 第11-12页 |
| ·本论文的主要工作 | 第12-13页 |
| 参考文献 | 第13-19页 |
| 第二章 激光诱导损伤现象中的伴随效应研究 | 第19-35页 |
| ·由周期型强激光脉冲引起的光学元件的温度分布 | 第19-24页 |
| ·热传导方程及求解 | 第20-22页 |
| ·计算与讨论 | 第22-24页 |
| ·结论 | 第24页 |
| ·激光诱导光学元件损伤的温度场分布及其它热效应研究 | 第24-26页 |
| ·激光诱导薄膜损伤应力分析 | 第26-28页 |
| ·激光诱导的薄膜飞溅时的应力作用情况 | 第26-27页 |
| ·HfO2／SiO2多层薄膜的应力和环境变化特征 | 第27-28页 |
| ·激光诱导光学元件损伤过程的电场分布及其对损伤的响 | 第28-31页 |
| ·激波压缩引起的基质材料的结构改变 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-35页 |
| 第三章 激光诱导损伤阈值测试研究 | 第35-53页 |
| ·激光诱导损伤阈值(LIDT)测量 | 第35-39页 |
| ·激光诱导损伤、激光诱导损伤阈值定义 | 第35-36页 |
| ·测试装置及测试过程 | 第36-37页 |
| ·激光作用方式 | 第37页 |
| ·系统主要参数测定 | 第37-39页 |
| ·损伤判定方法简介 | 第39-42页 |
| ·光斑形变法 | 第39页 |
| ·相称显微法 | 第39-40页 |
| ·散射检测法 | 第40页 |
| ·等离子体闪光法 | 第40-41页 |
| ·光声测量法 | 第41页 |
| ·光热测量 | 第41页 |
| ·透射反射法 | 第41页 |
| ·雾气法 | 第41-42页 |
| ·激光诱导损伤测试实例分析 | 第42-49页 |
| ·色分离光栅激光诱导损伤特性实验研究 | 第42-46页 |
| ·3ω激光辐照下熔石英的损伤增长研究 | 第46-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 第四章 光学元件激光损伤阈值测量的不确定度分析 | 第53-62页 |
| ·激光损伤、损伤阈值定义及测量方法 | 第53-54页 |
| ·激光诱导损伤、激光诱导损伤阈值定义 | 第53-54页 |
| ·激光损伤阈值测量装置及方法 | 第54页 |
| ·损伤阈值测量不确定度来源分析及计算模型 | 第54-58页 |
| ·能量密度的相对合成不确定度 | 第55-57页 |
| ·各能量密度处几率的计算引入的不确定度 | 第57页 |
| ·对损伤几率点进行直线拟合时带来的不确定度 | 第57页 |
| ·损伤阈值的相对合成不确定度 | 第57-58页 |
| ·1064NM高反薄膜损伤阈值测量不确定度实例分析 | 第58-60页 |
| ·小结 | 第60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 第五章 一种提高LIDT的方法—激光预处理工艺研究 | 第62-74页 |
| ·激光预处理原理和方式简介 | 第62-66页 |
| ·R-on-1激光预处理 | 第63页 |
| ·N-on-1激光预处理 | 第63页 |
| ·单步离线激光预处理 | 第63-64页 |
| ·两步激光预处理 | 第64-65页 |
| ·提高激光预处理效率的其它方式尝试 | 第65页 |
| ·结论 | 第65-66页 |
| ·激光预处理提高元件抗激光损伤阈值的机理探究 | 第66-68页 |
| ·节瘤缺陷良性去除模型 | 第66-67页 |
| ·电子缺陷模型 | 第67页 |
| ·光热探测缺陷吸收模型 | 第67-68页 |
| ·KDP晶体预处理机制 | 第68页 |
| ·HFO_2╱SIO_2薄膜1064NM激光预处理实验研究 | 第68-72页 |
| ·实验样品 | 第69页 |
| ·预处理方式 | 第69页 |
| ·激光能量调节方式 | 第69-70页 |
| ·实验结果及分析 | 第70-71页 |
| ·结论 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 第六章 总结 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录：硕士阶段发表的主要学术论文和学术交流活动 | 第77-78页 |
| 声明 | 第78页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第78页 |
