中文摘要 | 第1-6页 |
英文摘要 | 第6-12页 |
1 绪论 | 第12-30页 |
·引言 | 第12-13页 |
·激光等离子体的X射线辐射 | 第13-16页 |
·K壳层x射线 | 第14-15页 |
·L壳层X射线 | 第15-16页 |
·M壳层X射线 | 第16页 |
·用X射线谱诊断激光等离子体 | 第16-18页 |
·等离子体X射线光谱仪的国内外研究现状 | 第18-27页 |
·光栅谱仪的国内外研究现状 | 第18-20页 |
·晶体谱仪的国内外研究现状 | 第20-27页 |
·课题的来源及意义 | 第27页 |
·双通道椭圆弯晶谱仪研制的难点 | 第27-29页 |
·本文研究的主要内容 | 第29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
2 晶体对X射线的衍射理论及其特性 | 第30-42页 |
·晶体对X射线的衍射原理 | 第30-32页 |
·晶体对X射线的衍射强度 | 第32-36页 |
·理想晶体的衍射强度 | 第32-34页 |
·实际晶体的衍射强度 | 第34-36页 |
·决定晶体性能的基本参数 | 第36-37页 |
·晶面间距 | 第36-37页 |
·半高宽、峰值衍射率和积分反射系数 | 第37页 |
·表面处理对晶体性能的影响 | 第37-39页 |
·常用的分光晶体及其特性 | 第39-40页 |
·双通道椭圆弯晶谱仪的分光晶体 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
3 双通道椭圆弯晶谱仪的传递效率研究 | 第42-58页 |
·前置柱面镜的反射率 | 第42-45页 |
·分光晶体的积分反射系数 | 第45-50页 |
·原子散射因子 | 第45-47页 |
·结构因子 | 第47-48页 |
·镶嵌模型的应用 | 第48-50页 |
·滤光膜的透射率 | 第50-53页 |
·光谱相对孔径 | 第53-55页 |
·谱仪的传递效率 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-58页 |
4 双通道椭圆弯晶谱仪的色散率和分辨率研究 | 第58-72页 |
·色散率的理论分析 | 第58-62页 |
·角色散率 | 第58-59页 |
·线色散率 | 第59-62页 |
·分辨率的理论分析 | 第62-65页 |
·瑞利准则 | 第62-64页 |
·理论分辨率 | 第64-65页 |
·波长沿探测圆的色散 | 第65-66页 |
·光度参数与探测角之间的关系 | 第66-68页 |
·瞄准对中的误差分析 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-72页 |
5 双通道椭圆弯晶谱仪的研制 | 第72-86页 |
·总体考虑 | 第72-73页 |
·光路设计 | 第73-74页 |
·椭圆弯晶基底的设计 | 第74-75页 |
·椭圆弯晶分析器的制作 | 第75-76页 |
·出射狭缝的设计 | 第76页 |
·X射线光谱探测器 | 第76-80页 |
·X射线胶片相机 | 第76-78页 |
·X射线CCD相机 | 第78-80页 |
·X射线条纹相机 | 第80页 |
·谱仪的瞄准对中方案 | 第80-82页 |
·瞄准对中方案一 | 第81页 |
·瞄准对中方案二 | 第81-82页 |
·双通道椭圆弯晶谱仪的组成 | 第82-85页 |
·色散系统 | 第83-84页 |
·瞄准对中装置 | 第84-85页 |
·三维调整装置 | 第85页 |
·真空系统 | 第85页 |
·本章小结 | 第85-86页 |
6 双通道椭圆弯晶谱仪的实验研究 | 第86-104页 |
·椭圆弯晶基底的检测实验 | 第86-87页 |
·瞄准对中和模拟打靶实验 | 第87-89页 |
·实验步骤 | 第87-88页 |
·实验结果 | 第88-89页 |
·谱仪抽真空实验 | 第89-90页 |
·实验步骤 | 第89页 |
·实验结果 | 第89-90页 |
·在神光Ⅱ激光装置上的打靶实验 | 第90-93页 |
·激光打靶参数 | 第90-91页 |
·实验布局 | 第91-92页 |
·激光等离子体X射线的发射谱测量 | 第92-93页 |
·实验结果分析 | 第93页 |
·在星光Ⅱ激光装置上的打靶实验 | 第93-103页 |
·激光打靶参数 | 第93-94页 |
·实验布局 | 第94-95页 |
·激光等离子体X射线的发射谱测量 | 第95-102页 |
·实验结果分析 | 第102-103页 |
·本章小结 | 第103-104页 |
7 总结 | 第104-108页 |
致谢 | 第108-110页 |
参考文献 | 第110-116页 |
附录A 攻读博士学位期间发表的论文及参加的科研项目 | 第116-118页 |
附录B 攻读博士学位期间的获奖情况 | 第118-120页 |