| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 一、 引言 | 第8-9页 |
| 二、 历史资料 | 第9-14页 |
| 2．1 Al-Sb二元系 | 第9-10页 |
| 2．2 Y-Sb二元系 | 第10-11页 |
| 2．3 Y-Al二元系 | 第11-13页 |
| 2．4 局部Y-Al-Sb三元系合金相图773K等温截面 | 第13-14页 |
| 三、 实验原理和方 | 第14-34页 |
| 3．1 试样的制备 | 第14-17页 |
| 3．1．1 配料和熔炼 | 第15页 |
| 3．1．2 合金试样的均匀化热处理 | 第15-16页 |
| 3．1．3 粉末试样的制备 | 第16页 |
| 3．1．4 金相试样的制备 | 第16-17页 |
| 3．2 X射线衍射法 | 第17-20页 |
| 3．2．1 X射线衍射仪的基本原理与构 | 第17-18页 |
| 3．2．2 实验条件的选择 | 第18-20页 |
| 3．3 差热分析法（DTA） | 第20-21页 |
| 3．4 金相分析法 | 第21-22页 |
| 3．5 电镜法 | 第22-24页 |
| 3．5．1 扫描电子显微镜（SEM） | 第22-23页 |
| 3．5．2 二能谱分析（EDAX） | 第23-24页 |
| 3．6 相界的测定 | 第24-26页 |
| 3．6．1 相消失法 | 第24页 |
| 3．6．2 点阵常数法 | 第24-26页 |
| 3．7 X射线粉末衍射谱的指标化 | 第26-30页 |
| 3．7．1 比值法 | 第26-27页 |
| 3．7．2 分析法 | 第27-28页 |
| 3．7．3 图解法 | 第28-29页 |
| 3．7．4 计算机尝试法 | 第29页 |
| 3．7．5 指标化结果正确性的判据 | 第29-30页 |
| 3．8 晶体点阵常数的精确测定 | 第30-34页 |
| 3．8．1 内标法 | 第31页 |
| 3．8．2 图形外推法 | 第31-32页 |
| 3．8．3 最小二乘法 | 第32-34页 |
| 四、 实验结果和讨论 | 第34-40页 |
| 4．1 二元化合物的讨论 | 第34-36页 |
| 4．2 Y-Al-Sb三元系800K等温截面相图 | 第36-38页 |
| 4．3 有关熔炼的讨论 | 第38页 |
| 4．4 三相区的确定 | 第38-40页 |
| 参考文献 | 第40-43页 |
| 致谢 | 第43-44页 |
| 附表1 实验合金的成分配比及其相组成 | 第44-47页 |
| 附图1-11 X射线衍射谱线 | 第47-64页 |