| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| ·选题背景 | 第10-12页 |
| ·课题研究现状 | 第12-18页 |
| ·非线性方法研究现状 | 第12-16页 |
| ·聚合物材料耐电痕性研究现状 | 第16-18页 |
| ·论文的内容及结构安排 | 第18-20页 |
| ·创新点 | 第20-21页 |
| 第二章 耐电痕试验、非线性技术及放电信号的相空间分析 | 第21-48页 |
| ·耐电痕试验方法 | 第21-30页 |
| ·电痕破坏现象 | 第21-24页 |
| ·IEC 60112 试验方法 | 第24-27页 |
| ·IEC60587 试验法 | 第27页 |
| ·耐电痕试验试品 | 第27-30页 |
| ·相空间重构技术 | 第30-38页 |
| ·相空间重构理论与验证 | 第30-33页 |
| ·嵌入参数的选取 | 第33-38页 |
| ·递归分析技术 | 第38-43页 |
| ·递归图算法 | 第38-41页 |
| ·递归定量指标 | 第41-43页 |
| ·相空间重构技术在电痕劣化分析中的应用 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第三章 放电过程混沌存在的证明 | 第48-67页 |
| ·混沌的定义 | 第48-49页 |
| ·耐电痕试验混沌存在的证明 | 第49-65页 |
| ·最大李雅普诺夫指数验证混沌状态 | 第51-55页 |
| ·分形维数验证混沌状态 | 第55-59页 |
| ·递归图法验证混沌状态 | 第59-62页 |
| ·Poincaré截面验证混沌状态 | 第62-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 第四章 辐射条件下聚合物材料耐电痕性研究 | 第67-87页 |
| ·测量PBT、PBN在三种辐射条件下的CTI值 | 第68-69页 |
| ·递归参数的选取 | 第69-71页 |
| ·辐射剂量不同，PBT放电电流的非线性分析 | 第71-79页 |
| ·PBT辐射剂量0kGy放电电流的递归图分析 | 第71-73页 |
| ·PBT，辐射剂量100kGy，放电电流的递归图分析 | 第73-75页 |
| ·PBT，辐射剂量1MGy，放电电流的递归图分析 | 第75-77页 |
| ·PBT，递归定量指标和分形维数分析 | 第77-79页 |
| ·辐射剂量不同，PBN放电电流的非线性分析 | 第79-86页 |
| ·PBN，辐射剂量0kGy，放电电流的递归图分析 | 第80-81页 |
| ·PBN，辐射剂量100 kGy，放电电流的递归图分析 | 第81-83页 |
| ·PBN，辐射剂量1MGy，放电电流的递归图分析 | 第83-85页 |
| ·PBN，递归定量指标 | 第85-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 第五章 交、直流电压条件下的放电分析 | 第87-101页 |
| ·交、直流条件下放电电流递归特性比较 | 第87-93页 |
| ·递归参数的选取 | 第87-88页 |
| ·直流条件下不同放电阶段的递归图分析 | 第88-93页 |
| ·交、直流条件下混沌吸引子的比较 | 第93-96页 |
| ·交、直流条件下的分形维数和最大李雅谱诺夫指数 | 第96-98页 |
| ·交、直流条件下放电电流的分形维数 | 第96-98页 |
| ·最大李雅谱诺夫指数 | 第98页 |
| ·交、直流条件下，放电各阶段功率谱分析 | 第98-100页 |
| ·本章小结 | 第100-101页 |
| 第六章 阻燃剂条件下的放电分析 | 第101-109页 |
| ·阻燃剂对放电电流非线性特征的影响 | 第101-104页 |
| ·放电电流的递归分析 | 第102-104页 |
| ·不同阻燃剂剂量，放电电流的分形维数 | 第104页 |
| ·测定比漏电痕指数（CTI） | 第104-105页 |
| ·放电量的计算 | 第105-106页 |
| ·放电电流的频谱分析 | 第106-107页 |
| ·材料表面接触角的测定 | 第107页 |
| ·本章结论 | 第107-109页 |
| 第七章 全文总结和展望 | 第109-111页 |
| ·全文总结 | 第109-110页 |
| ·将递归技术、递归定量分析和分形维数等引入耐电痕研究 | 第109页 |
| ·验证耐电痕试验进入混沌状态 | 第109-110页 |
| ·多种条件下聚合物耐电痕研究 | 第110页 |
| ·研究展望 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-121页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第121-123页 |
| 致谢 | 第123页 |
